[发明专利]波纹管壁厚不均匀度检测装置有效

专利信息
申请号: 201510826731.6 申请日: 2015-11-25
公开(公告)号: CN105277097B 公开(公告)日: 2018-07-13
发明(设计)人: 康慧;齐铁城 申请(专利权)人: 中核(天津)科技发展有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 天津市宗欣专利商标代理有限公司 12103 代理人: 胡恩河
地址: 300180 *** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 不均匀度 底板 方形定位板 支撑定位机构 支撑定位组件 波纹管壁 测量机构 检测装置 连接板 支撑轴 壁厚 支架 专用检测装置 杠杆千分表 圆形定位板 壁上安装 波纹结构 机械结构 机械装置 批量化 支撑杆 检测 可调 内凹 外凸 纹管 紧凑 生产
【说明书】:

发明公开了一种波纹管壁厚不均匀度检测装置,包括支撑定位机构和测量机构;所述支撑定位机构包括底板和设置于底板上的三组支撑定位组件;所述支撑定位组件包括与底板固定连接的连接板和安装于连接板上的支撑轴,支撑轴上方安装有方形定位板,方形定位板一侧壁上安装有支撑杆,方形定位板上方安装有圆形定位板;所述测量机构包括支架和安装于支架上的杠杆千分表。本发明利用紧凑的可调机械装置,适用于外凸和内凹两种波纹结构的纹管壁厚不均匀度的专用检测,能够快速得出壁厚不均匀度值,提高了检测效率,也为研制适用于批量化生产的自动专用检测装置奠定了机械结构基础。

技术领域

本发明属于一种壁厚不均匀度接触测量装置,具体涉及一种波纹管壁厚不均匀度检测装置。

背景技术

波纹管,材质不透明,其波纹处壁厚极薄,波纹轮廓呈窄深型,目前的超声波测厚仪探头大小无法适用;二维光学坐标测量机只能测量波纹截面,需将波纹管进行切割破坏,检测成本高;三坐标测量机需频繁更换测头检测,步骤复杂,过程繁琐,检测效率低。

发明内容

本发明是为了克服现有波纹管壁厚不均匀度原检测方法中存在的成本高、效率低等缺点而提出的,其目的是提供一种适用于外凸和内凹两种波纹结构的波纹管壁厚不均匀度检测装置。

本发明的技术方案是:

一种波纹管壁厚不均匀度检测装置,包括支撑定位机构和测量机构;所述支撑定位机构包括底板和设置于底板上的三组支撑定位组件;所述支撑定位组件包括与底板固定连接的连接板和安装于连接板上的支撑轴,支撑轴上方安装有方形定位板,方形定位板一侧壁上安装有支撑杆,方形定位板上方安装有圆形定位板;所述测量机构包括支架和安装于支架上的杠杆千分表。

所述三组支撑定位组件沿圆周均布。

所述连接板上形成有长孔和螺纹孔。

本发明的有益效果是:

本发明利用紧凑的可调机械装置,适用于外凸和内凹两种波纹结构的纹管壁厚不均匀度的专用检测,能够快速得出壁厚不均匀度值,提高了检测效率,也为研制适用于批量化生产的自动专用检测装置奠定了机械结构基础。

附图说明

图1是本发明的主视图;

图2是本发明的俯视图;

图3是图1中A部分的放大结构示意图(杠杆千分表测头位于波纹侧壁);

图4是是图1中A部分的放大结构示意图(杠杆千分表测头位于波纹底)。

其中:

1 支撑定位机构 2 测量机构

3 底板 4 支撑定位组件

5 连接板 6 支撑轴

7 方形定位板 8 支撑杆

9 圆形定位板 10 杠杆千分表

11 千分表支架 12 长孔

13 螺纹孔 14 波纹管。

具体实施方式

下面结合说明书附图及实施例对本发明波纹管壁厚不均匀度检测装置进行详细说明:

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