[发明专利]温度影响下近红外校正模型的无测点补偿建模方法

权利要求书

1.一种近红外光谱测量中受温度影响的无测点温度修正建模方法，其特征在于该方法包括如下步骤：

步骤一：采集多个样品的物性参数实验室标准数据，并针对同一样品进行不同温度水平下的近红外光谱采集；

步骤二：对步骤一中所采集的近红外光谱进行不同的预处理并做比较；

步骤三：对步骤二中产生的近红外光谱进行统计异常值处理；

步骤四：以待测物性参数在所规定温度的原始数据为预测变量，以预处理后不同温度水平下的光谱波数为自变量，建立物性参数近红外校正模型。

2.根据权利要求1所述的温度影响下近红外校正模型的无测点补偿建模方法，其特征在于：所述步骤一中多个样品待测物性参数要覆盖测量要求的范围；温度范围覆盖待测样品物性参数测量的温度范围。

3.根据权利要求1所述的温度影响下近红外校正模型的无测点补偿建模方法，其特征在于：所述步骤二中的光谱预处理方法包括一种或几种以下算法的叠加运算：一阶导数，二阶导数，最大-最小标准化，基础底线校正，散射校正，常数偏置校正等。

4.根据权利要求1所述的温度影响下近红外校正模型的无测点补偿建模方法，其特征在于：所述步骤三中统计异常值处理为主元分析方法，使得整个预处理光谱数据的主元模式都在一个统计可信度之内。

5.根据权利要求1所述的温度影响下近红外校正模型的无测点补偿建模方法，其特征在于：所述步骤四中物性参数校正模型的建立方法采用偏最小二乘算法进行温度为非分离隐含变量的线性回归。