[发明专利]一种条带式RCS成像测量用运动模拟系统与方法

说明书

技术领域

本发明涉及RCS成像测量领域，尤其涉及一种条带式RCS成像测量用 运动模拟系统与方法。

背景技术

以下对本发明的相关技术背景进行说明，但这些说明并不一定构成本发 明的现有技术。

雷达散射截面(RCS)是衡量待测目标在雷达波照射下产生的回波强度 的物理量，其对于目标的探测、识别以及隐身设备的研制都具有重要意义。 目前，在微波暗室中主要采用静态RCS测量方式，其测量过程主要包括：将 待测目标安装在低散射金属支架上，并将低散射金属支架固定在转台上；在 转台转动过程中触发矢网分析仪进行RCS测量。而在真实环境中，待测目标 可能会发生平动以及自旋、锥旋等微运动，从而影响RCS的测量值。

为了在微波暗室中实现对待测目标的动态RCS测量，有必要提供一种能 够模拟待测目标的质心平动以及自旋等微运动的模拟系统。

发明内容

本发明的目的在于提出一种能够模拟待测目标的质心平动、自旋等微运 动的模拟系统与方法，以进一步完成对待测目标的条带式RCS成像测量。

根据本发明的一个方面，提供了一种条带式RCS成像测量用运动模拟 系统。所述系统包括：工控机、微动模拟单元、平动模拟单元；

所述工控机用于向所述平动模拟单元发送控制指令，使所述平动模拟 单元中的平动结构进行平动；同时，所述平动模拟单元将所述平动结构的 平动位置信息发送至所述工控机。

所述工控机还用于向所述微动模拟单元发送控制指令，使所述微动模 拟单元中的微动结构进行微动；同时，所述微动模拟单元将所述微动结构 的微动位置信息发送至所述工控机。

在所述平动结构进行平动时，所述工控机还用于控制所述平动模拟单 元向RCS矢网分析仪发送同步触发脉冲；或者，在所述微动结构进行微 动时，所述工控机还用于控制所述微动模拟单元向矢网分析仪发送同步触 发脉冲。

优选的，所述微动模拟单元包括俯仰模拟单元。所述俯仰模拟单元包 括依次相连的微动控制器、第一驱动器、第一伺服电机、俯仰结构，以及 设置于第一伺服电机上的第一码盘。

所述微动控制器用于接收工控机的控制指令，并根据所述控制指令通 过第一驱动器、第一伺服电机使俯仰结构进行俯仰运动；在所述俯仰结构 进行俯仰运动时，所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS 矢网分析仪发送同步触发脉冲。

第一码盘用于确定俯仰位置信息，并将所述俯仰位置信息通过第一驱 动器、微动控制器发送至所述工控机。

优选的，所述微动模拟单元还包括锥旋模拟单元。所述锥旋模拟单元 包括依次相连的微动控制器、第二驱动器、第二伺服电机、锥旋结构，以 及设置于第二伺服电机上的第二码盘。

所述微动控制器用于接收工控机的控制指令，并根据所述控制指令通 过第二驱动器、第二伺服电机使锥旋结构进行锥旋运动；在所述锥旋结构 进行锥旋运动时，所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS 矢网分析仪发送同步触发脉冲。

第二码盘用于确定锥旋位置信息，并将所述锥旋位置信息通过第二驱 动器、微动控制器发送至所述工控机。

优选的，所述微动模拟单元还包括自旋模拟单元。所述自旋模拟单元 包括依次相连的微动控制器、第三驱动器、第三伺服电机、自旋结构，以 及设置于自旋结构的第三码盘。

所述微动控制器用于接收工控机的控制指令，并根据所述控制指令通 过第三驱动器、第三伺服电机使自旋结构进行自旋运动；在所述自旋结构 进行自旋运动时，所述微动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS 矢网分析仪发送同步触发脉冲。

第三码盘用于确定自旋位置信息，并将所述自旋位置信息通过第三驱 动器、微动控制器发送至所述工控机。

优选的，所述平动模拟单元包括依次相连的平动控制器、第四驱动器、 第四伺服电机、平动结构，以及设置于平动结构上的光栅尺。

所述平动控制器用于接收工控机的控制指令，并根据所述控制指令通 过第四驱动器、第四伺服电机使平动结构进行平动；在所述平动结构进行 平动时，所述平动控制器还用于根据工控机的控制指令向RCS矢网分析 仪发送同步触发脉冲。

所述光栅尺用于确定平动位置信息，并将所述平动位置信息通过所述 平动控制器发送至所述工控机。