[发明专利]一种基于SVM的胶囊内窥镜图像分类方法在审
申请号: | 201510834972.5 | 申请日: | 2015-11-24 |
公开(公告)号: | CN105512612A | 公开(公告)日: | 2016-04-20 |
发明(设计)人: | 孙丙宇;王海雷;王昌君;李文波 | 申请(专利权)人: | 中科院合肥技术创新工程院 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/62 |
代理公司: | 安徽汇朴律师事务所 34116 | 代理人: | 胡敏 |
地址: | 230088 安徽省合肥市高*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 svm 胶囊 内窥镜 图像 分类 方法 | ||
1.一种基于SVM的胶囊内窥镜图像分类方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:建立胶囊内窥镜异常病变图像库:所述异常病变图像库包括标准病例图像;
步骤S2:提取异常病变图像库中图像的纹理特征Kt和光谱特征Ks;
步骤S3:基于步骤S2获得的异常病变图像的纹理特征Kt和光谱特征Ks,引入RBF核函数K (x,x')=exp(-P||x-x'||2),式中,x为纹理特征向量或光谱特征向量,x'为核函数中心, σ为核宽度,构建基于高斯径向基RBF的纹理核Kt与光谱核Ks的组合核函数K为:
K=βKt+(1-β)Ks
式中:β为组合核函数K的权值系数;
步骤S4:由已知包含异常病变特征图像和正常无病变图像组成训练样本集,使用步骤 S3的组合核函数K作为SVM学习模型的核函数,构建基于RBF核函数的SVM学习模型进行训 练:
式中:xi为模型的输入向量,即为纹理特征向量或光谱特征向量;X为输入向量通过组合 核函数计算映射得到的高维空间属性;l是训练样本数,αi为辅助变量拉格朗日算子,0<αi<C,C是对错分样本的惩罚系数;b为分类阀值;yi为分类标记,其中,yi=0或1,即0表示正常 无病变的图像,1表示异常病变特征的图像;
步骤S5:通过交叉验证的方法对SVM学习模型中的惩罚系数C和RBF核宽度σ进行优化选 择,取最优惩罚系数值C为最优拉格朗日算子α*,即最优权值α*,获得如下所示的SVM分类预 测模型f(X):
式中,yi∈{0,1};
步骤S6:使用步骤S5的分类预测模型对待检测的胶囊内窥镜图像进行分类,当f(X)>0 时,表示待检测图像为有异常病变特征的图像,标记为1;当f(X)<0时,表示待检测图像为 正常无病变的图像,标记为0,从而将有异常病变特征的图像和正常无病变的图像区分开;
步骤S7:将步骤S6中标记为1的图像作为学习样本,加入步骤S1的异常病变图像库中, 通过不断学习和训练分类预测模型f(X),逐步提高分类精度。
2.根据权利要求1所述的一种基于SVM的胶囊内窥镜图像分类方法,其特征在于,所述 步骤S2中,异常病变图像的纹理特征的提取方法为:
步骤S201a:将异常病变图像库中图像转换为灰度图像;
步骤S202a:采用形态学滤波中的腐蚀与膨胀处理,对灰度图像先后进行闭运算和开运 算,以滤除图像中的噪声,获得预处理图像;
步骤S203a:将预处理图像的膨胀减去腐蚀,获得保留有原图像边缘和轮廓的消噪图 像;
步骤S204a:将消噪图像再通过腐蚀与膨胀运算方法提取异常病变图像的纹理特征Kt。
3.根据权利要求2所述的一种基于SVM的胶囊内窥镜图像分类方法,其特征在于,所述 步骤S204a中,腐蚀与膨胀运算方法为:将消噪图像进行n次开运算和n次闭运算,得到异常 病变图像的纹理特征Kt。
4.根据权利要求1所述的一种基于SVM的胶囊内窥镜图像分类方法,其特征在于,所述 步骤S2中,异常病变图像的光谱特征的提取方法为:
步骤S201b:将异常病变图像数据库中图像的颜色空间转换为HSV,H代表色相角,S代表 饱和度,V代表亮度;
步骤S202b:计算整幅图像HSV的平均值最大值MAXHSV,最小值MINHSV,标准差σ和方 差DX;
步骤S203b:以H、S、V、MAXHSV、MINHSV、σ、DX作为光谱特征值,构建8维的光谱特征向 量即为光谱特征Ks。
5.根据权利要求4所述的一种基于SVM的胶囊内窥镜图像分类方法,其特征在于,所述 步骤S201b中,将图像的颜色空间转换为HSV的方法为:
设(R,G,B)分别是一个颜色的红、绿和蓝坐标,它们的值是在0到1之间的实数;设max等 价于R,G和B中的最大者,min等价于R,G和B中的最小者;H为色相角且H∈[0,360)度,S为饱 和度且S∈[0,1],V为亮度,转换公式为:
V=max。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中科院合肥技术创新工程院,未经中科院合肥技术创新工程院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510834972.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。