[发明专利]有机发光二极管显示装置及其驱动方法

权利要求书

1.一种有机发光二极管显示装置，该有机发光二极管显示装置包括：

显示面板，该显示面板被构造有像素，所述像素各自包括有机发光二极管以及向所述有机发光二极管施加驱动电流的驱动晶体管；

选通驱动器，该选通驱动器通过选通线与所述像素连接；

数据驱动器，该数据驱动器被构造为在感测模式下通过数据线向所述像素施加感测电压，并且使得感测电流能够流过所述驱动晶体管中的每一个；

感测驱动器，该感测驱动器被构造为对与流过所述驱动晶体管的所述驱动电流对应的阈值电压进行感测；以及

亮度补偿电路，该亮度补偿电路被构造为从所感测的阈值电压导出所述驱动晶体管的阈值电压的负漂移程度，基于所述负漂移程度来检测亮度缺陷像素，并且生成用于所述亮度缺陷像素的补偿灰度值，

其中，所述亮度补偿电路被构造为通过对所感测的所述像素的阈值电压进行比较来提取具有比固定值大的阈值电压的像素，对所感测的所述像素的阈值电压进行比较包括将所感测的像素的阈值电压和与该像素相邻的像素的阈值电压彼此进行比较。

2.根据权利要求1所述的有机发光二极管显示装置，其中，所述亮度补偿电路包括：

比较器，该比较器被构造为从所感测的阈值电压导出所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述负漂移程度；

亮点检测器，该亮点检测器被构造为基于来自所述比较器的所述负漂移程度来检测所述亮度缺陷像素；以及

补偿值生成器，该补偿值生成器被构造为从针对由所述亮点检测器检测的所述亮度缺陷像素的输入灰度值导出所述补偿灰度值。

3.根据权利要求2所述的有机发光二极管显示装置，其中，通过将所述负漂移程度与预先设置的临界值进行比较来检测所述亮度缺陷像素。

4.根据权利要求2所述的有机发光二极管显示装置，其中，通过从所感测的阈值电压中提取相对高的阈值电压并且将所述相对高的阈值电压与基准阈值电压进行比较来生成所述负漂移程度。

5.根据权利要求4所述的有机发光二极管显示装置，其中，通过对所感测的阈值电压进行高通滤波来获得所述相对高的阈值电压。

6.根据权利要求1所述的有机发光二极管显示装置，其中，在所述感测模式下获得所述补偿灰度值，并且在所述显示面板上显示图像的显示模式下通过所述数据线中的一条来将所述补偿灰度值应用到所述亮度缺陷像素。

7.一种对有机发光二极管显示装置进行驱动的方法，该有机发光二极管显示装置包括像素，所述像素各自被构造有有机发光二极管以及向所述有机发光二极管施加驱动电流的驱动晶体管，该方法包括以下步骤：

通过在感测模式下通过数据线将感测电压施加到所述像素，来使得驱动电流能够流过所述驱动晶体管；

对与流过所述驱动晶体管的所述驱动电流对应的阈值电压进行感测；

从所感测的阈值电压导出所述驱动晶体管的阈值电压的负漂移程度；

通过对所感测的所述像素的阈值电压进行比较来提取具有比固定值大的阈值电压的像素，对所感测的所述像素的阈值电压进行比较包括将所感测的像素的阈值电压和与该像素相邻的像素的阈值电压彼此进行比较；

基于所述驱动晶体管的所述阈值电压的所述负漂移程度来检测亮度缺陷像素；以及

生成用于所述亮度缺陷像素的补偿灰度值。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，检测所述亮度缺陷像素的步骤包括以下步骤：

将所述阈值电压的所述负漂移程度与预先设置的临界值进行比较。

9.根据权利要求7所述的方法，其中，在所述感测模式下获得所述补偿灰度值，并且当在显示模式下驱动所述有机发光二极管显示装置时，通过所述数据线中的一条来将所述补偿灰度值应用到所述亮度缺陷像素。

10.根据权利要求7所述的方法，其中，导出所述负漂移程度的步骤包括以下步骤：

从所感测的阈值电压中提取相对高的阈值电压；以及

将所述相对高的阈值电压与基准阈值电压进行比较。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，通过对所感测的阈值电压进行高通滤波来获得所述相对高的阈值电压。