[发明专利]一种数模混合芯片测试的抗干扰方法在审
| 申请号： | 201510846846.1 | 申请日： | 2015-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN106814299A | 公开（公告）日： | 2017-06-09 |
| 发明（设计）人： | 武平;孙昕;何超;石志刚 | 申请（专利权）人： | 北京确安科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3167 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 数模 混合 芯片 测试 抗干扰 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种数模混合芯片测试的抗干扰方法其特征在于；
探卡基板设计上采用数模对称图形；
射频信号探针采用同轴线。
2.根据权利要求1所述的探针基板其特征在于地面安排在第二层，射频信号路径布置在第一层。
3.根据权利要求2所述的探针基板，其特征在于：射频信号路径外的屏蔽地过孔尺寸直径小于0.35mm。
4.根据权利要求2所述的探针基板，其特征在于：设计时首先放置位于射频信号路径上的元器件、并通过调整其方向，将射频信号路径的长度减到最小。
5.根据权利要求2所述的探针基板，其特征在于：射频输入信号路径远离输出信号路径。
6.根据权利要求2所述的探针基板，其特征在于：若芯片含有有高功率射频功能和低功率射频功能，高功率信号路径和低功率信号路径分离。
7.根据权利要求6所述的探针基板其特征在于：探卡基板板上高功率信号路径外屏蔽地尽量加大隔离地面积，面积上面最好没有过孔。
8.根据权利要求1所述的特征在于：射频探针同轴线避免交叉。
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