[发明专利]一种基于自动形态学端元提取的高光谱图像数据解混方法有效

专利信息
申请号: 201510851929.X 申请日: 2015-11-27
公开(公告)号: CN105427319B 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 郭宝峰;方俊龙;沈宏海;杨名宇 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人: 姜彦
地址: 310018 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 自动 形态学 提取 光谱 图像 数据 方法
【权利要求书】:

1.一种基于自动形态学端元提取的高光谱图像数据解混方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:

(1)估计高光谱图像数据f中的端元数p;

(2)设置结构元素Kmin和Kmax,根据所述的结构元素Kmin、Kmax求得最大迭代次数Imax,计算所述高光谱图像数据的参考光谱向量Uben;其中Kmin和Kmax均为偶数;且所述的计算所述高光谱图像数据的参考光谱向量Uben具体为,

利用单形体体积增长算法或正交子空间投影算法提取图像端元的平均值作为参考光谱向量Uben,或利用所述高光谱图像所有像元的平均值作为参考光谱向量Uben

(3)初始化,设迭代次数i=1,每一个像元f(x,y)的MEI值为MEI(x,y)=0;

(4)将结构元素K在所述高光谱图像数据中移动,并对所述高光谱图像数据f进行膨胀操作,获得所述结构元素K内纯度最高的四个像元d1、d2、d3、d4

(5)根据下式确定所述的所述结构元素K内纯度最高的四个像元d1、d2、d3、d4的MEI值,

MEI(n,m)=dist(d(x,y),Uben),

其中,dist(d(x,y),Uben)为像元与参考光谱向量Uben间的光谱夹角距离;

(6)设i=i+1,判断是否i=Imax,若是,则进入步骤(7);若否,则用膨胀操作后的结构元素修正后的高光谱图像数据代替原高光谱图像数据f膨胀操作,并返回步骤(4);

(7)获得MEI图像,该MEI图像为由MEI值大于设定阈值的像元所组成的候选端元集;

(8)从所述的候选端元集之中选取形态学离心率指数最大的像元作为图像的第一个端元e1,设置已获取端元数n=1;

(9)当n≥1时,从所述的候选端元集之中选取由已知端元组成的各单形体中体积最大的像元作为下一个端元;

(10)判断是否n<p,若是,则设定则n=n+1,并返回步骤(9),若否,则得到p个端元(e1,e2,L,ep)。

2.根据权利要求1所述的基于自动形态学端元提取的高光谱图像数据解混方法,其特征在于,所述的步骤(4)中,对所述高光谱图像数据f进行膨胀操作,获得所述结构元素K内纯度最高的四个像元d1、d2、d3、d4具体为:

根据下列各式分别计算所述结构元素K内纯度最高的四个像元d1、d2、d3、d4

其中,Dm为结构元素K内某一个像元f(x,y)到所述参考光谱向量Uben的距离,Dm(f(x,y),K)=dist(f(x,y),Uben),K/{(x1,y1)}表示集合K与集合{(x1,y1)}的差集。

3.根据权利要求1所述的基于自动形态学端元提取的高光谱图像数据解混方法,其特征在于,所述的步骤(8)中,从所述的候选端元集之中选取形态学离心率指数最大的像元作为图像的第一个端元e1,具体为,利用阈值分割方法选取MEI值较大的像元作为图像的端元。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州电子科技大学,未经杭州电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510851929.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top