[发明专利]一种边界扫描测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，具体涉及一种边界扫描测试系统。

背景技术

一种边界扫描测试系统的研制是边界扫描测试的一项重要内容。现有技术给出了一种基于微机网络端口的边界扫描测试仪,该仪器具有较好的可操作性以及测试故障定位精度,并编程实现了多种算法,但是在测试过程中需要人工介入的工作太多。现有技术给出一种基于微机PCI总线的边界扫描测试仪器的开发，但是该仪器只能简单地测试被测电路的好坏,不能实现电路板互连测试矢量的自动生成等工作。

发明内容

本发明提供一种边界扫描测试系统，解决现有边界扫描测试系统精确度低、抗误判和混淆能力低的问题。

本发明通过以下技术方案解决上述问题：

一种边界扫描测试系统，由边界扫描测试控制器、主控计算机、测试存取口和边界扫描测试总线组成；所述边界扫描测试控制器由总线接口电路、双口RAM、向量RAM、微控制器、边界扫描测试总线控制器、CPLD可编程控制器件、可编程时钟模块、边界扫描自检电路以及EIEESdt1149.l和EIEESdt1149.5总线变换电路组成。

上述方案中，所述边界扫描测试控制器通过总线接口电路将测试指令和测试数据下载到双口RAM中,以中断方式启动边界扫描测试控制器进行边界扫描测试；边界扫描测试总线控制器在测试时钟的驱动下,产生标准的总线信号,通过IEEESdt1149.1和IEEEstd1149.5总线变换电路与外部待测设备相连,从而控制整个测试过程。

上述方案中，所述边界扫描测试控制器将测试响应向量存储在自己的空间里,测试完成之后将响应数据发送给上位机；分析响应数据，获取对于故障诊断有用的信息。

上述方案中，所述边界扫描测试控制器包含有垃圾数据，为边界扫描总线控制器FIFO中的数据、扫描链路驻留的无用信息、互连测试中除被测网络之外其他单元的数据。

上述方案中，所述垃圾数据的剔除步骤为：

(l)剔除边界扫描测试控制器中FIFO和第一轮测试扫描链中驻留的数据；

(2)根据扫描链长度、测试的循环次数将测试响应向量分段截取出来,形成一个测试响应矩阵,矩阵的每一列长度等于扫描链长度,每一行则是对于扫描链上每个边界扫描单元的SRV；

(3)根据被测芯片类型以及其在扫描链上的位置,将芯片级的测试响应向量提取出来；

(4)根据文件分析模块获得的芯片互连网络节点文件以及芯片边界扫描单元和物理管脚的对应关系，将对应于网络的测试向量提取出来。

本发明的优点与效果是：由边界扫描测试控制器、主控计算机、测试存取口和边界扫描测试总线组成；边界扫描测试控制器通过总线接口电路将测试指令和测试数据下载到双口RAM中,以中断方式启动边界扫描测试控制器进行边界扫描测试；边界扫描测试总线控制器在测试时钟的驱动下,产生标准的总线信号,通过IEEESdt1149.1和IEEEstd1149.5总线变换电路与外部待测设备相连,从而控制整个测试过程，并进行了垃圾数据剔除，提高了本发明的精确度、抗误判和混淆能力。

具体实施方式

以下结合实施例对本发明作进一步说明，但本发明并不局限于这些实施例。