[发明专利]变频器IGBT模块温升测试电路及其测试方法在审
申请号: | 201510859467.6 | 申请日: | 2015-11-30 |
公开(公告)号: | CN105425072A | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 岳凡;兰建军;常国梅;薛昊峰;乌云翔 | 申请(专利权)人: | 北京赛思亿电气科技有限公司;山西汾西重工有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 山西科贝律师事务所 14106 | 代理人: | 陈奇 |
地址: | 100097 北京市海淀区紫竹*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 变频器 igbt 模块 测试 电路 及其 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种变频器模块温升的测试电路,特别涉及一种变频器IGBT模块的温升测试电路,主要适用于变频器IGBT器件的功率测试,用来考察IGBT、电抗器等器件的温升。
背景技术
变频器的主要发热部位在功率器件部分,对四象限变频器的整流和逆变部分、二象限变频器的逆变部分,目前主流变频器均采用IGBT模块,IGBT作为电压型控制器件,具有输入阻抗高、开关损耗小、通断速度快、工作频率高、功率容量大等优点。一般情况下流过IGBT的电流都比较大,开关频率较高,其损耗也比较大,如果变频器柜内散热结构设计不合理,功率器件产生的热量不能及时散掉,将使器件的结温超过其设计最大值,导致IGBT损坏,这就需要在变频器装配完成以后,测试IGBT模块的热性能,以判断其能否符合设计要求,所以一种简单可靠的功率测试方法是验证IGBT模块是否设计合理必不可少的步骤,而针对目前主流的大功率变频器,尤其是四象限运行变频器,IGBT模块数量很多,在单独进行IGBT模块的温升测试时,一般是用大功率变压器来提供大功率在测试车间进行其温升测试的,存在测试时间长,损耗功率大,测试功率损耗全部由电网来提供的缺点,另外还存在受测试条件限制现场无法提供所需的大功率变压器的问题。
发明内容
本发明提供了一种变频器IGBT模块温升测试电路及其测试方法,解决了在对变频器IGBT模块进行温升测试时存在测试时间长,损耗功率大,测试受到设备限制的问题。
本发明为了解决上述技术问题采用了以下技术方案:
一种变频器IGBT模块温升的测试电路,包括第一组被测IGBT模块、第二组被测IGBT模块、负载电抗器、第一接口电路板、第二接口电路板和工业控制机,第一组被测IGBT模块的直流侧和第二组被测IGBT模块的直流侧是连接在一起的,并通过公共直流母线与外接直流电源连接在一起,第一组被测IGBT模块的逆变侧和第二组被测IGBT模块的逆变侧通过共同的负载电抗器连接在一起,形成一个背靠背运行的拓扑结构,电网通过调压器与整流柜连接在一起,整流柜的电压输出正端与公共直流母线的正端连接在一起,整流柜的电压输出负端与公共直流母线的负端连接在一起,在公共直流母线的正端和负端之间连接有直流支撑电容,工业控制机通过第一接口电路板与第一组被测IGBT模块的脉冲信号控制端连接在一起,工业控制机通过第二接口电路板与第二组被测IGBT模块的脉冲信号控制端连接在一起。
一种变频器IGBT模块温升的测试方法,包括以下步骤:
第一步、第一组被测IGBT模块的直流侧和第二组被测IGBT模块的直流侧是连接在一起的,并通过公共直流母线与外接直流电源连接在一起,第一组被测IGBT模块的逆变侧和第二组被测IGBT模块的逆变侧通过共同的负载电抗器连接在一起,形成一个背靠背运行的拓扑结构,电网通过调压器与整流柜连接在一起,整流柜的电压输出正端与公共直流母线的正端连接在一起,整流柜的电压输出负端与公共直流母线的负端连接在一起,在公共直流母线的正端和负端之间连接有直流支撑电容,工业控制机通过第一接口电路板与第一被测IGBT模块的脉冲信号控制端连接在一起,工业控制机通过第二接口电路板与第二被测IGBT模块的脉冲信号控制端连接在一起;
第二步、电网提供三相380伏交流电压,通过调压器调压和整流柜整流后为第一组被测IGBT模块和第二组被测IGBT模块同时提供温升测试功率电压;
第三步、通过工业控制机中的程序调整第一组被测IGBT模块的调制因数和第二组被测IGBT模块调制因数以及第一组被测IGBT模块的相位角和第二组被测IGBT模块相位角,触发脉冲,使IGBT模块进入工作状态;
第四步、调节调压器使公共直流母线上的电压达到额定直流电压,使IGBT模块的输出电流达到额定电流;
第五步、在上述额定工况条件下,每五分钟记录一次数据,数据内容包括第一组被测IGBT模块和第二组被测IGBT模块的温度、负载电抗器的温度,当IGBT模块在一小时内温度变化在1℃以内时,可判定IGBT模块已达到热稳定;
第六步、根据测试环境温度计算出第一组被测IGBT模块和第二组被测IGBT模块的温升。
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