[发明专利]布局检查系统及其方法有效
申请号: | 201510861988.5 | 申请日: | 2015-11-30 |
公开(公告)号: | CN105335583B | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 曾协淳;郑永健 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 布局 检查 系统 及其 方法 | ||
1.一种布局检查方法,其特征在于,所述布局检查方法包含:
由复数个零件名称中选取复数个电子特性字符串,其中所述零件名称对应一布局档内的复数个零件;
将所述电子特性字符串转换为复数个电子特性数值;
将所述电子特性数值与一参考值比较以决定至少一特定零件;以及
列出所述至少一特定零件;
所述至少一特定零件的至少一电子特性数值等于所述参考值;
所述布局检查方法还包含:由所述布局档中选择所述零件;
所述列出至少一特定零件的步骤包含:列出所述至少一特定零件每一者的一线路名称、一零件名称与一材料编号;
所述电子特性数值为电阻值。
2.一种布局检查系统,其特征在于,所述布局检查系统包含:
一记忆单元,用以储存一布局档;以及
一处理单元,电性耦接所述记忆单元并用以执行以下步骤:
由复数个零件名称中选取复数个电子特性字符串,其中所述零件名称对应所述布局档内的复数个零件;
将所述电子特性字符串转换为复数个电子特性数值;
将所述电子特性数值与一参考值比较以决定至少一特定零件;以及
列出所述至少一特定零件;
所述至少一特定零件的至少一电子特性数值等于所述参考值;
所述处理单元还用以执行:由所述布局档中选择所述零件;
所述列出至少一特定零件的步骤包含:列出所述至少一特定零件每一者的一线路名称、一零件名称与一材料编号;
所述电子特性数值为电阻值。
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