[发明专利]光学条纹图背景光成分抑制方法有效

专利信息
申请号: 201510862274.6 申请日: 2015-11-30
公开(公告)号: CN105426898B 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 李思坤;王向朝;步扬;茅言杰;徐东瀛 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G06K9/52 分类号: G06K9/52;G06T7/00;G06T7/40
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯;张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 采样 轮廓 变换 光学 条纹 背景 成分 抑制 方法
【权利要求书】:

1.一种基于非下采样轮廓波变换的光学条纹图背景光成分抑制方法,利用图像获取系统,该图像获取系统包括:投影系统(1)、CCD摄像机(2)、计算机(3)和待测物体(4);所述的投影系统(1)的光轴与CCD摄像机(2)的光轴的夹角大于0度小于90度;待测物体(4)在投影系统(1)的投影范围之内,待测物体(4)在CCD摄像机(2)的视场之内,所述的计算机(3)的输入端与所述的CCD摄像机(4)的输出端相连,其特征在于,该方法包括如下步骤:

①光学条纹图的采集:

投影系统(1)投影正弦结构光场至待测物体(4)的表面;通过计算机(3)控制CCD摄像机(2)拍摄经过被测物体调制的光学条纹图并存储;设定光学条纹图行方向为x方向,列方向设为y方向,则光学条纹图的强度I'(x,y)如下列公式所示:

I'(x,y)=I1(x,y)+I2(x,y)cos[2πfx+△φ(x,y)]+noise,

其中,I1(x,y)为背景光成分强度,I2(x,y)为光学条纹图的调制强度,f为光学条纹图的基频,△φ(x,y)为由待测物体三维面形高度信息引起的调制相位,noise表示噪声;

②非下采样轮廓波变换最佳分解层数确定:

设定非下采样轮廓波变换的分解层数L从1到n变化,n的取值范围为3~20的整数,每次增加1层;各层的分解方向数设定为m,m的取值范围为1~2s的整数,s表示当前层的序数;

对光学条纹图进行非下采样轮廓波变换;每次变换后,提取非下采样轮廓波变换系数中的低通子带系数,然后作逆非下采样轮廓波变换,重建低频成分图像,并根据下列公式计算低频成分图像的能量EL

其中,X、Y分别为所述光学条纹图的行数和列数;

计算最佳分解层数L0公式如下:

其中,E(L)表示随着L的变化低频成分图像能量构成的函数,表示E(L)对L的偏导数的绝对值;

③非下采样轮廓波变换分解:

以分解层数为L0、各层的分解方向数为1对光学条纹图进行非下采样轮廓波变换,得到非下采样轮廓波变换系数;

④非下采样轮廓波变换系数收缩:

设定步骤③中得到的非下采样轮廓波变换系数的低通子带系数的值为0,进行非下采样轮廓波变换系数收缩,然后对收缩后的非下采样轮廓波变换系数作逆非下采样轮廓波变换,重建光学条纹图,实现背景光成分抑制。

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