[发明专利]基于光纤光栅的卫星大阵面天线变形在轨测量系统及方法在审
申请号: | 201510864078.2 | 申请日: | 2015-11-30 |
公开(公告)号: | CN105526879A | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 满孝颖;方无迪;彭海阔;王志国;王舒楠;林德贵;任友良;杨金军 | 申请(专利权)人: | 上海卫星工程研究所 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 光纤 光栅 卫星 大阵面 天线 变形 测量 系统 方法 | ||
1.一种基于光纤光栅的卫星大阵面天线变形在轨测量系统,其特征在于,包括: 光波发生器(1)、传导光纤(2)、多个光栅测点(3)、光波解调器(4)、信息处理器(5);
所述光波发生器(1)包括主光源和分光器,用于提供多路传导光纤所需的光波;
所述传导光纤(2),用于依次连接光波发生器(1)、多个光栅测点(3)、光波解调 器(4)以及信息处理器(5),并提供光波传输的通道;
所述多个光栅测点(3)被布置于卫星阵面天线形面上,用于形成传感网络;
所述光波解调器(4),用于对收集的光波进行解调,从而得到各个光栅测点(3) 的应变和温度;
所述信息处理器(5),用于对各个光栅测点(3)的应变和温度进行计算,并得到 天线阵面形面变形参数。
2.根据权利要求1所述的基于光纤光栅的卫星大阵面天线变形在轨测量系统,其 特征在于,每个所述光栅测点(3)均包括:Y向测应变光栅传感器(31)、X向测应变 光栅传感器(32)、测温度光栅传感器(33)、导热支座(34),且所述Y向测应变光栅 传感器(31)、X向测应变光栅传感器(32)、测温度光栅传感器(33)之间通过传导光 纤(2)连接,所述导热支座(34)采用导热材料;其中,Y向测应变光栅传感器(31)、 X向测应变光栅传感器(32)分别固定于天线阵面的Y方向和X方向,用于测量正交 方向上的应变;测温度光栅传感器(33)通过导热支座(34)固定于天线阵面上,用于 测量该光栅测点(3)处的温度和修正应变测量值。
3.根据权利要求2所述的基于光纤光栅的卫星大阵面天线变形在轨测量系统,其 特征在于,设置在同一路传导光纤(2)上的多个光栅测点(3)之间的栅距不同。
4.一种基于光纤光栅的卫星大阵面天线变形在轨测量方法,其特征在于,利用权 利要求1所述的基于光纤光栅的卫星大阵面天线变形在轨测量系统,包括如下步骤:
步骤1:利用卫星阵面天线形面上的多个光栅测点(3)测得所述多个光栅测点(3) 对应测点处两个正交方向上的应变和温度;
步骤2:当光波通过光栅测点(3)的光栅时,由应变和温度引起的栅距变化会改变 相应测点处光纤光栅反射光的中心波长,通过光波解调器(4)收集输出的反射光,解 调后计算出各个光栅测点(3)的应变值和温度,并对应变值进行修正;
步骤3:利用信息处理器(5)结合各个光栅测点(3)修正后的应变值和各个光栅 测点(3)的布局尺寸将应变值转换成变形值,求解出卫星大阵面天线形面变形的空间 曲面方程。
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