[发明专利]一种实时检测激光损伤非透明材料的应力的装置与方法有效
申请号: | 201510865687.X | 申请日: | 2015-12-01 |
公开(公告)号: | CN105509939B | 公开(公告)日: | 2018-07-27 |
发明(设计)人: | 谭勇;金光勇;蔡红星;于化东;李贺;郭明;张巍 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | G01L1/24 | 分类号: | G01L1/24;G01B11/16;G01B11/24 |
代理公司: | 长春科宇专利代理有限责任公司 22001 | 代理人: | 马守忠 |
地址: | 130022 *** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实时 检测 激光 损伤 透明 材料 应力 装置 方法 | ||
本发明提供一种实时检测激光损伤非透明材料的应力的装置与方法。该装置结构包括马赫‑曾德尔干涉仪、高速相机和计算机。马赫‑曾德尔干涉仪比迈克尔逊干涉仪用于本装置中更具优势,激光不会沿原光路返回而影响实时测量精度,得到的干涉图样清晰。高速相机具有10000帧/s以上的响应速度,对ms脉冲激光器引起的应变具有切片观察的效果。实时检测并计算激光损伤非透明材料的应力。由于参考目标物和目标物形同,节省了成本,适用于非透明材料的应力检测。采用DG535脉冲触发器控制延时,达到延时的准确性。通过计算机对得到的干涉图样的处理可得到脉冲激光作用时间内目标物的应力变化曲线。
技术领域
本发明涉及一种实时检测激光损伤非透明材料的应力的装置与方法,属于激光应用技术领域。
背景技术
激光作用材料过程中,材料吸收激光能量导致温度升高,进而在激光作用材料区域及其附近形成温度梯度和热应力应变。目前,材料中残余应力检测无损方法主要是X射线衍射法、中子衍射法、磁性法、超声法以及压痕应变法等。射线法理论完善,但因有射线伤害和仅能测定表面应力使其应用受到很大限制;磁性法根据铁磁体磁饱和过程中应力与磁化曲线之间的变化关系进行测定,在一定范围内适用;压痕应变法采用电阻应变片作为测量用敏感元件,在应变中心部位采用冲击加载制造压痕以代替钻孔,通过应变仪记录压痕区外弹性区应变增量的变化,从而获得对应于残余应力大小的真实弹性应变,求出残余应力的大小。但是,射线法直接对待损伤材料表面造成伤害;而铁磁体需装到材料表面才能测量到激光作用表面浅层应力,会遮挡了激光光路;压痕应变法需要紧贴在材料背面,当激光作用过程中材料表面应变太小,导致测量误差大。同时,这些方法很难快速响应亚ms量级以上的应力应变演化。因此,满足不了激光作用材料过程中应力应变演化过程的测量。
光学干涉计量在材料微小形变检测、光学介质的折射率测量以及光学波前检测等方面有着广泛应用,如利用干涉仪检测光学加工中镜面平行度和粗糙度等。它们通常利用光线穿透介质,计算光程差获得该透明介质的内部结构和表面结构信息;但是,没有利用干涉仪检测表面微结构变化引起反射光线的光程变化,获得内部应力导致的表面结构变化及其表面结构本身变化的信息。
发明内容
为了解决已有技术存在的问题,本发明提供了一种实时检测激光损伤非透明材料的应力的装置与方法,实现非透明目标在线应力的测试。针对大功率固体激光器与非透明介质的相互作用,采用马赫-曾德尔干涉的方法,得到非透明介质损伤的干涉条纹;计算应变和应力值。
本发明提供的一种实时检测激光损伤非透明材料的应力的装置包括窄线宽半导体激光器,第一分光镜,参考目标物,第二分光镜,第一凸透镜,干涉滤光片,高速相机,计算机,DG535脉冲触发器,固体脉冲激光器,能量调节系统,第二凸透镜;所述的第一分光镜、第二分光镜相同,均为对45°入射的窄线宽半导体激光半反半透的分光镜,大功率固体激光器为激光光源,窄线宽半导体激光器为干涉光源,能量调节系统为一对损伤阈值大于500MW/cm2的格兰激光棱镜,外套一个光垃圾圆筒防止垂直光路方向的激光逃逸危险,其中的第一个棱镜将激光调制为水平方向线偏振,其中的第二个棱镜偏振轴可在光束横截面内旋转,以便激光强度可连续衰减;DG535脉冲触发器与高速相机连接,DG535脉冲触发器用于接收大功率固体激光器发出的高能量脉冲激光预发射时间信号,给高速相机发出与大功率固体激光器发射激光同步的工作指令,高速相机接收到干涉光源形成的干涉信息后转移到计算机进行处理,计算机中存储和运行计算光程差、应力值的软件程序、描绘应力演变过程的变化曲线的软件程序;
特别要强调的是:所述的参考目标物作为反射镜使用,而且,参考目标物和目标物相同,两者分别用可调式底片固定架装卸,该固定架的一边位置固定,另一边可调,两个目标物前表面均用限位钉限制位置,方便参考目标物和目标物的装卸,且保证等光程;
所述的窄线宽半导体激光器发出的激光通过第一分光镜分光,其中的第一路光作为参考臂光,其中的第二路光作为测量臂光,参考臂光反射到参考目标物,再反射到第二分光镜并再次被反射到第一凸透镜;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春理工大学,未经长春理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510865687.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种工程钻机主机与滑套相连的新型安装机构
- 下一篇:一种带单向阀的空气过滤器