[发明专利]低辐射镀膜玻璃在审
申请号: | 201510865857.4 | 申请日: | 2015-12-01 |
公开(公告)号: | CN105366959A | 公开(公告)日: | 2016-03-02 |
发明(设计)人: | 申忠东;李金光;赖博渊;刘东阳;刘勇 | 申请(专利权)人: | 中航三鑫股份有限公司 |
主分类号: | C03C17/36 | 分类号: | C03C17/36 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 镀膜 玻璃 | ||
1.低辐射镀膜玻璃,其特征在于,包括基片、至少一层远红外辐射反射膜 层以及外覆盖膜层,所述基片上镀设有第一电介质层,所述远红外辐射反射膜 层镀设在所述第一电解质层上;所述远红外辐射反射膜层包括远红外辐射反射 层以及两层阻挡层,两层所述阻挡层分别对应镀设在所述远红外辐射反射层的 上表面及下表面;所述外覆盖层包括两层ZrOx层,两层所述ZrOx层之间镀设 有至少一层第二电介质层;所述外覆盖膜层镀设在所述远红外辐射反射膜层上, 且两者之间设有第三电介质层。
2.如权利要求1所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述外覆盖膜层与 所述第一电介质层之间设有多个依序镀设的远红外辐射反射膜层,且相邻的所 述远红外辐射发射膜层之间镀设有第四电介质层。
3.如权利要求1所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述ZrOx层中含 有Ai。
4.如权利要求1所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述ZrOx层的厚 度范围为2nm-12nm。
5.如权利要求1所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述ZrOx层的厚 度范围为3nm-8nm。
6.如权利要求1至5任一项所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述远 红外辐射反射层与其下表面的阻挡层之间镀设有ZnO层。
7.如权利要求1至5任一项所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述第 一电介质层中含有SiNx。
8.如权利要求1至5任一项所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述阻 挡层中含有Ni或Cr或NiCr或NiCrOx或NiMO或ZnO。
9.如权利要求1至5任一项所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述第 三电介质层的厚度比第二电介质层的厚度厚至少20nm。
10.如权利要求1至5任一项所述的低辐射镀膜玻璃,其特征在于,所述 第二电介质层中含有的Si含量是第三电介质层中含有的Si含量的两倍到三倍 之间。
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