[发明专利]一种矢量调制器的增益控制方法

权利要求书

1.一种矢量调制器的增益控制方法，其特征在于，所述方法包括粗校准测试和细校准测试；

所述粗校准测试包括：步骤10，设定用于粗校准测试用的I路校准边界和Q路校准边界；

步骤11，选取I路和Q路的粗校准步进；

步骤12，根据本次测试的I路校准边界和粗校准步进，以及Q路校准边界和粗校准步进，对矢量调制器的增益控制进行测试；

步骤13，验证本次测试得到的I路最小增益值对应的控制电压和Q路最小增益值对应的控制电压是否满足预先设定的幅度平坦度和相位偏移量指标；

步骤14，当验证结果为满足时，输出本次测试得到的I路和Q路最小增益值对应的控制电压；

步骤15，当验证结果为不满足时，进行细校准测试；

所述步骤10包括：

根据所述矢量调制器的相关性能，在程序入口设定控制电压参数，所述控制电压参数包括：I路控制电压范围的最大值Vmi_max和最小值Vmi_min，Q路控制电压范围的最大值Vmq_max和最小值Vmq_min；

根据Vmi_max和Vmi_min确定I路控制电压的校准边界，根据Vmq_max和Vmq_min确定Q路控制电压的校准边界；

所述细校准测试包括：

步骤20，根据前次对矢量调制器的增益控制进行测试得到的I路和Q路最小增益值对应的控制电压，设定用于本次细校准测试用的I路校准边界和Q路校准边界；

步骤21，选取本次测试的I路和Q路的细校准步进；

步骤22，根据本次测试的I路校准边界和细校准步进，以及Q路校准边界和细校准步进，对矢量调制器的增益控制进行测试；

步骤23，验证本次测试得到的I路和Q路最小增益值对应的控制电压是否满足预先设定的幅度平坦度和相位偏移量指标；

步骤24，当验证结果为满足时，输出I路和Q路最小增益值对应的控制电压；

步骤25，当验证结果为不满足时，判断本次测试细校准步进是否小于矢量调制器电压可控的最小刻度，当小于时，输出前次测试得到的I路和Q路最小增益值对应的控制电压，当大于时，执行步骤20；

所述步骤13或所述步骤23包括：

利用二分法方式得到本次测试I路和Q路的最小增益值对应的控制电压；

根据最大增益圆法则，验证本次测试得到的I路和Q路最小增益值对应的控制电压是否满足预先设定的幅度平坦度和相位偏移量指标。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，利用二分法方式得到本次测试I路和Q路的最小增益值对应的控制电压的步骤，具体包括：

固定校准电压V_i为I路校准边界控制电压的中点，根据粗校准步进或细校准步进得到若干个Q路校准电压V_q，将V_q从小到大进行遍历测试，得到Q路增益最小值值对应的控制电压V_mq；

固定校准电压V_mq，根据粗校准步进或细校准步进得到若干个I路校准电压V_i，将V_i从小到大进行遍历测试，得到I路增益最小值值对应的控制电压V_mi。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据最大增益圆法则，验证本次测试得到的I路和Q路最小增益值对应的控制电压是否满足预先设定的幅度平坦度和相位偏移量指标的步骤，具体包括：

根据V_mq和V_mi，在极坐标系内计算最大增益圆相应的圆心和半径；

选取至少两个校准电压，对选取的校准电压进行测试，得到各校准电压对应的增益和相位；

比对各校准电压对应的增益的最大值和最小值的差与预先设定的增益平坦度指标，以及比对各校准电压对应的相位的最大值和最小值的差与预先设定的相位偏移量指标。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，I路和Q路的粗校准步进相同；每次细校准测试的I路和Q路的细校准步进相同。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，第一次细校准测试的细校准步进小于粗校准步进；本次细校准测试的细校准步进小于前次细校准测试的细校准步进。

6.如权利要求4或5所述的方法，其特征在于，根据矢量调制器的增益控制进行测试的时长和精度，选取粗校准步进和每次细校准测试的细校准步进。