[发明专利]通用型抗干扰数字处理板测试平台及测试方法

说明书

技术领域

发明涉及一种抗干扰数字基带板测试台，特别涉及一种通用型抗干扰数字处理板测试平台及测试方法。

背景技术

近年来，卫星导航技术在军事、科研、农业等多个领域得到了广泛应用，具备BDS系统抗干扰能力的抗干扰卫星天线技术也取得快速的发展，目前各厂家生产制作的抗干扰数字基带板种类繁多，对外接口、配接外部时钟、供电方式等各有不同，对其性能进行验证时，也需要根据各自特点，制作测试夹具，单独验证，带来极大的不便。

发明内容

鉴于现有技术存在的问题，发明提供一种通用型抗干扰数字基带板测试台对目前主流的北斗二B3频点抗干扰数字基带板，提供统一、完备的测试平台，能够验证其数据传输、自检、通道状态监视，控制命令等各项功能，具体技术方案是，一种通通用型抗干扰数字处理板测试平台，包括机箱、测试背板、测试计算机、射频处理单元、变压输入电源和外部时钟，其特征在于：所述的测试背板，包括电压转换芯片、时钟电平转换芯片、增益控制芯片、信号转换芯片、数个射频接插件、数个低频接插件，各接插件功能端口、通信串口引出至机箱面板；电路连接为，外部电源通过电源接插件进入机箱内部，为测试背板供电，测试背板通过电压转换芯片，为被测数字板进行供电。外部时钟通过机箱射频接插件接入，连接至测试背板，通过背板的时钟转换芯片转换为正弦和LVCOMS两种时钟，按需要选择与被测数字扳相连接。卫星信号经射频处理单元处理产生四路B3频点射频信号，输入至机箱内测试背板，由背板上增益控制电路对其进行增益调整，处理后输出接入被测数字板。测试背板上设置通信转换芯片，支持RS232、RS422、LVTTL通信形式，用于将数字板通信口引出至机箱外部，连接测试计算机。

测试步骤分为，（1）、先将被测抗干扰数字处理板通过安装螺柱固定在机箱内测试背板上，根据被试数字处理板的供电需求连接被试板的电源输入端和测试背板电源输出端，连接被试数字处理板的通信串口至测试背板上相应通信端口，测试背板可支持RS232/RS422/LVTTL各种电平通信形式；

（2）、连接被试板的时钟输入端与测试背板的时钟输出端，测试背板可提供62M正弦或LVCOMS/LVTTL电平时钟，连接各路BD2B3输入，封闭机箱；

（3）、连接机箱外部射频处理单元、电源输入、外部时钟、和测试计算机；（4）、通过观察状态信息、被试数字处理板输出信号等，测试抗干扰效果，通过测试计算机监视通信串口输出，对数据进行验证，并能发送控制命令，测试响应情况。

发明的技术效果是，能够完全满足对各型号抗干扰数字处理板的功能测试及指标验证需求。目前该抗干扰数字处理板测试平台已完成验证测试，指标达到军方要求，能够完全满足对各型抗干扰数字处理板的功能测试及指标验证需求，对目前主流的北斗二B3频点抗干扰数字基带板，提供统一、完备的测试平台，能够验证其数据传输、自检、通道状态监视，控制命令等各项功能。

附图说明

图1是本发明的工作原理框图。

图2是本发明的测试背板工作原理框图。

具体实施方式

如图1、2所示，通用型抗干扰数字处理板测试平台，包括机箱、测试背板、测试计算机、射频处理单元、变压输入电源和外部时钟，所述的测试背板，包括电压转换芯片、时钟电平转换芯片、增益控制芯片、信号转换芯片、数个射频接插件、数个低频接插件，各接插件功能端口、通信串口引出至机箱面板，电路连接为，外部电源通过电源接插件进入机箱内部，为测试背板供电，测试背板通过电压转换芯片，为被测数字板进行供电。外部时钟通过机箱射频接插件接入，连接至测试背板，通过背板的时钟转换芯片转换为正弦和LVCOMS两种时钟，按需要选择与被测数字扳相连接。卫星信号经射频处理单元处理产生四路B3频点射频信号，输入至机箱内测试背板，由背板上增益控制电路对其进行增益调整，处理后输出接入被测数字板。测试背板上设置通信转换芯片，支持RS232、RS422、LVTTL通信形式，用于将数字板通信口引出至机箱外部，连接测试计算机。

在对抗干扰数字处理板进行测试时，先将被测抗干扰数字处理板通过安装螺柱固定在机箱内测试背板上，根据被试数字处理板的供电需求连接被试板的电源输入端和测试背板电源输出端，连接被试数字处理板的通信串口至测试背板上相应通信端口，测试背板可支持RS232/RS422/LVTTL各种电平通信形式。连接被试板的时钟输入端与测试背板的时钟输出端，测试背板可提供62M正弦或LVCOMS/LVTTL电平时钟，连接各路BD2B3输入，封闭机箱。最后连接机箱外部射频处理单元、电源输入、外部时钟、和测试计算机。通过观察状态信息、被试数字处理板输出信号等，测试抗干扰效果，通过测试计算机监视通信串口输出，对数据进行验证，并能发送控制命令，测试响应情况。