[发明专利]服务器测试系统、方法及控制系统、方法

说明书

技术领域

本发明涉及服务器测试领域，特别是涉及一种服务器测试系统、方法及控制系统、方法。

背景技术

目前在服务器的散热设计过程中，在不同的温度下对服务器做不同的加载测试是验证和发现服务器散热设计是否合乎要求的重要组成部分。现有的散热测试，需要测试工程师手动开启或设定，由于散热验证要求至少在15℃、20℃、25℃、30℃、以及35℃/五种温度下做6种以上的加载测试，每组测试要1个小时左右来完成，这样一个完整的测试就需要工程师花费30小时以上，耗费的时间长，且工作量非常大。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种服务器测试系统、方法及控制系统、方法，用于解决现有技术中对服务器的散热测试需要花费工程师大量的时间和精力的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种服务器测试系统，包括：检测模块，设置于服务器的预定位置，用以检测所述预定位置的温度；恒温箱，用于容设所述服务器，具有温度设置单元以及数据收发单元，所述温度设置单元用以通过所述数据收发单元接收一温度设置指令设置所述恒温箱的温度，以为所述服务器提供一恒温环境；数据采集仪，与所述检测模块电连接，用以根据一数据采集指令采集所述检测模块的检测结果；控制器，与所述恒温箱、服务器、和数据采集仪电连接，用以生成所述温度设置指令，以发送至所述恒温箱，使得所述恒温箱达到与所述温度设置指令相应的温度，并用以生成一测试指令，以发送至所述服务器，且所述服务器根据所述测试指令进行运行时，生成所述数据采集指令以发送至所述数据采集仪，且获取并记录所述数据采集仪的采集结果。

于本发明的一具体实施例中，所述检测模块为温度传感器，用以检测所述服务器预定位置的温度。

于本发明的一具体实施例中，所述预定位置包括CPU、内存、硬盘、以及出风口中的一个或多个所处的位置。

于本发明的一具体实施例中，所述测试指令包括令所述服务器运行一加载程序的指令。

于本发明的一具体实施例中，所述控制器以一固定周期并依照一预先设定的次序，依次向所述恒温箱发送令其设置为相应温度的温度设置指令。

于本发明的一具体实施例中，所述相应温度为15度、20度、25度、30度、以及35度中的一种。

于本发明的一具体实施例中，所述恒温箱还包括一温度传感器，用以实时获取所述恒温箱的实时温度，并通过所述数据收发单元发送至所述控制器，所述控制器根据所述实时温度，向所述恒温箱反馈一温度调节指令。

于本发明的一具体实施例中，所述控制器用以将所述实时温度与一预设温度阈值进行比较，以当所述实时温度大于所述温度阈值时，向所述恒温箱发送令所述恒温箱降温的温度调节指令；并当所述实时温度小于所述温度阈值时，向所述恒温箱发送令所述恒温箱升温的温度调节指令。

于本发明的一具体实施例中，所述恒温箱还包括一温度调节单元，用以根据所述温度调节指令，对所述恒温箱的温度进行调节。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明还提供一种服务器测试方法，应用如上任一项所述的服务器测试系统，对服务器的散热性能进行测试。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明还提供一种控制系统，应用于如上任一项所述的服务器测试系统的控制器，包括：温度设置模块，用以生成所述温度设置指令，以发送至所述恒温箱；测试控制模块，用以生成所述测试指令，以发送至所述服务器；采集控制模块，用以在所述恒温箱达到与所述温度设置指令相应的温度，且所述服务器根据所述测试指令进行运行时，生成所述数据采集指令，以发送至所述数据采集仪；记录模块，用以获取并记录所述数据采集仪的采集结果。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明还提供一种控制方法，应用于如上任一项所述的服务器测试系统的控制器，包括以下步骤：生成所述温度设置指令，以发送至所述恒温箱；生成所述测试指令，以发送至所述服务器；在所述恒温箱达到与所述温度设置指令相应的温度，且所述服务器根据所述测试指令进行运行时，生成所述数据采集指令，以发送至所述数据采集仪；获取并记录所述数据采集仪的采集结果。