[发明专利]微称量非平衡比例天平

说明书

技术领域

本发明涉及一种微称量非平衡比例天平，属于测量领域。

背景技术

当前，质量测量主要采用天平测量，但是在微称量时，由于被称物重要很小，甚至大大低于法码重量，这时就需要使用物殊天平来称量。

发明内容

本发明涉及一种微称量非平衡比例天平，以实现微小质量物体称量的目的。

为实现上述的目的，本发明采用如下技术方案：

一种微称量非平衡比例天平，包含：左托盘(1)、右托盘(2)、左测臂(3)、右测臂(4)、可移动测量支块(5)；如附图1所示。

以下结合附图，说明本发明的技术构造及方法：左托盘(1)位于左测臂(3)左上角，右托盘(2)位于右测臂(4)的右上角，左测臂(3)和右测臂(4)为一个整体测臂，上面指定位置设有支点，可移动测量支块(5)可根据需要放置在测臂下方支点上，形成一个非平衡测量天平，采用杠杆的比例平衡的特点，从而实现对轻微物体的质量测量。

本发明的有益效果：结构简单、使用方便、成本低廉。

附图说明：

附图1是本发明的结构示意图。

具体实施方式：

为了使本发明的技术方案更加清楚明白，以下结合附图和实施例，对本发明进一步详细说明，此处所描述的具体实例，仅仅用以解释本发明，并不用于限制本发明。

实施例：

请参阅附图1所示，左托盘(1)位于左测臂(3)左上角，右托盘(2)位于右测臂(4)的右上角，左测臂(3)和右测臂(4)为一个整体测臂，上面指定位置设有支点，可移动测量支块(5)可根据需要放置在测臂下方支点上，形成一个非平衡测量天平，采用杠杆的比例平衡的特点，从而实现对轻微物体的质量测量。