[发明专利]具有时间检测电路的对漏电断路器进行检测的测试设备

说明书

本申请是申请日为“2012年07月27日”、申请号为“2012102624890”、名称为“对漏电断路器进行检测的测试设备”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种测试设备，尤其涉及一种具有时间检测电路的对漏电断路器进行检测的测试设备。

背景技术

根据国家标准GB14048.2-2001，GB16916.1-2003，GB16917.1-2003等规定：对无论是突然施加或缓慢上升的具有规定的剩余脉动直流或剩余正弦交流电流，能确保在规定时间内脱扣的漏电断路器称为A型漏电断路器。对无论是突然施加或缓慢上升的具有无直流分量的剩余正弦交流电流，能确保在规定时间内脱扣的漏电断路器，称为AC型漏电断路器。由上可知，A型漏电断路器覆盖了AC型漏电断路器的功能。

上述“规定的剩余脉动电流”为以下4种情况：电流滞后电压0o的半波整流电流、电流滞后电压90o的半波整流电流、电流滞后电压135o的半波整流电流、含有6mA直流的电流滞后电压0o的半波整流电流。

现有技术中不存在对A型漏电断路器进行测量的装置。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种测试范围较广且性能较为稳定可靠的对漏电断路器进行检测的测试设备。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种具有时间检测电路的对漏电断路器进行检测的测试设备，包括交流电源电路、直流供电电路、相位产生电路、交流漏电调节电路、相位显示电路和时间检测电路；其特征在于：交流电源电路具有用于构成负载回路的第一火线端和用于构成模拟漏电回路的第二火线端，第一火线端和第二火线端用于与被测设备的火线输入端相连，所述负载回路的零线端用于与被测设备的零线端相连；所述被测设备是A型漏电断路器；相位产生电路用于与被测设备的火线输出端相连；相位产生电路包括控制按钮电路，控制按钮电路用于控制相位产生电路在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0o的半波整流电流、电流滞后电压90o的半波整流电流、电流滞后电压135o的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0o的半波整流电流；交流漏电调节电路用于控制所述模拟漏电回路的电流大小；时间检测电路用于测量从所述模拟漏电回路导通至A型漏电断路器脱扣所需的时间，即动作时间；

所述相位产生电路包括：电流滞后电压0o的第一半波整流电路，电流滞后电压90o的第二半波整流电路，电流滞后电压135o的第三半波整流电路，6mA直流生成电路以及可控硅电流控制电路；可控硅电流控制电路根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0o的半波整流电流、电流滞后电压90o的半波整流电流、电流滞后电压135o的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0o的半波整流电流；

所述电流滞后电压135o的第三半波整流电路包括：正弦波整形电路、充电电路、与门、电阻R9、电阻R10、运算放大器IC1B、电阻R11、电位器WR1、三极管BG3、电阻R12、R13、按钮开关SB1、电阻R58、三极管BG18、光耦芯片IC4、电阻R59、双向可控硅BG19、电阻R60和电阻R61；

正弦波整形电路由变压器T2、二极管D5、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7和运算放大器IC1A构成；

充电电路由电阻R8和电容C5构成，电阻R8和电容C5依次与运算放大器IC1A的输出端相连；

与门由二极管D6和D7构成，二极管D6的负极接电阻R8，二极管D6的正极接运算放大器IC1B的正极；二极管D7的负极接运算放大器IC1A的输出端，电阻R9和电阻R10各自的输入端接二极管D7的正极，电阻R9和电阻R10用于设定相对于电流滞后电压135o的整定电压；

电阻R11的输入端接电阻R9的输出端，电阻R11的输出端接运算放大器IC1B的反向输入端；电位器WR1的一端接运算放大器IC1B的反向输入端；电阻R11和电位器WR1用来调节运算放大器IC1B的反向输入端的相对于电流滞后电压135o的比较电压；

三极管BG3的基极通过电阻R12接运算放大器IC1B的输出端，三极管BG3的发射极接电阻R11的输入端和按钮开关SB1，三极管BG3的发射极接电阻R13的输入端，三极管BG3与电阻R13构成射极跟随器；电位器WR1的调节端和电阻R10的输出端均与电阻R13的输出端相连；电阻R12用作三极管BG3基极的限流电阻；