[发明专利]逻辑测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种逻辑测试装置及方法。

背景技术

由于成本控制的原因，电路板的成板测试环境往往比较简单。当前市面上主要的电信号测试设备，由于功能较多、体积大、成本高，占用了大量测试用地，同时还需要电脑控制，且对控制人员的素质要求较高，造成测试成本的提高。

爱德万测试(中国)管理有限公司及其相关的母公司和子公司，是国际上从事半导体和电子逻辑信号自动测试设备开发和销售的一流公司。其产品可以通过带有操作系统的电脑/服务器/工作站，将测试激励下载到其测试设备上，并对待测设备(简称DUT，Design Under Test)进行测试，判断正误，同时在带有操作系统的电脑/服务器/工作站上将DUT实际产生的信号与预期信号进行对比，显示出来，用于调试。

该方式是一种非常完善的测试方法，但其设备体积较大，不易移动。测例装载和监测需要利用带有操作系统的电脑/服务器/工作站，通过专门的通讯通道，如串口、USB、PCI等接口，下载到设备上，该过程需要专门在测试机台边上准备放置电脑/服务器/工作站的空间，且操作流程较为复杂，对操作人员素质要求较高。在一些简单的电信号测试流程中，增添了较大的成本。

发明内容

本发明的目的是提供一种逻辑测试装置及方法，以解决测试装置控制复杂、占用体积大、不可以灵活配置的技术问题。

为实现以上发明目的，本发明提供一种逻辑测试装置，包括配置存储模 块、可编程门阵列处理模块、被测装置信号接口模块以及发光模块；

所述配置存储模块，用于固化存储测例以及配置文件；

所述可编程门阵列处理模块，用于对测试信号的发送以及处理；

所述被测装置信号接口模块，用于接收被测装置回馈的信号以及向被测装置发送测试信号；

所述发光模块，用于根据测试结果给出相应的发光提示；

所述配置存储模块与可编程门阵列处理模块连接，所述可编程门阵列处理模块分别与被测装置信号接口模块以及发光模块连接。

进一步地，所述逻辑测试装置，还包括数据传输接口模块、存储模块、按钮模块以及功能选择模块；

所述数据传输接口模块，用于逻辑测试装置与计算机数据通信；

所述存储模块，用于逻辑测试装置在外部测例下载模式下存储测例；

所述按钮模块，用于逻辑测试装置在手动测试模式下控制测试开启或停止；

所述功能选择模块，用于控制逻辑测试装置处于某种下载状态或某种测试状态；

所述数据传输接口模块与可编程门阵列处理模块连接，所述存储模块与可编程门阵列处理模块连接，所述按钮模块与可编程门阵列处理模块连接，所述功能选择模块与可编程门阵列处理模块连接。

进一步地，所述逻辑测试装置还包括被测装置供电模块，

所述被测装置供电模块，用于直接给被测装置供电；

所述被测装置供电模块与可编程门阵列处理模块连接。

进一步地，所述逻辑测试装置还包括显示接口模块，

所述显示接口模块，用于外接显示装置，并将测试结果通过显示接口模块 传输给显示装置显示；

所述显示接口模块与可编程门阵列处理模块连接。

进一步地，所述逻辑测试装置还包括扩展接口模块，

所述扩展接口模块，用于给逻辑测试装置提供功能扩展接口；

所述扩展接口模块与可编程门阵列处理模块连接。

进一步地，所述数据传输接口模块是通用异步收发传输器接口模块。

进一步地，所述功能选择模块是拨码开关。

另一方面，本发明提供了一种逻辑测试方法，该方法运用逻辑测试装置进行测试，具体步骤如下：

步骤S1：将被测装置与逻辑测试装置连接；

步骤S2：通过功能选择模块将可编程门阵列处理模块设置为测例下载状态；

步骤S3：向可编程门阵列处理模块发送测例；

步骤S4：可编程门阵列处理模块将测例进行保存；

步骤S5：通过功能选择模块将可编程门阵列处理模块设置为测例测试状态；

步骤S6：可编程门阵列处理模块获取一个测例；

步骤S7：可编程门阵列处理模块将测例发送至被测装置信号接口模块；

步骤S8：被测装置信号接口模块将测例发送至被测装置；

步骤S9：被测装置对测例做出响应，并发送反馈信息至被测装置信号接口模块；

步骤S10：被测装置信号接口模块将反馈信息发送至可编程门阵列处理模块；