[发明专利]油气微渗漏高光谱遥感识别方法有效

专利信息
申请号: 201510886245.3 申请日: 2015-12-04
公开(公告)号: CN106842348B 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 童勤龙;刘德长;王茂芝;杨燕杰;余永安;徐本宏 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01V8/02 分类号: G01V8/02
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 闫兆梅
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 油气 渗漏 光谱 遥感 识别 方法
【权利要求书】:

1.一种油气微渗漏高光谱遥感识别方法,其特征在于,该方法具体包括如下步骤:

步骤(1)选择地面高光谱数据的区域;

步骤(2)选择具有油气微渗漏异常现象的地区作为测量对象,利用地面波谱仪,获取光谱数据;

步骤(3)对上述步骤(2)中获取的地面原始光谱数据进行光谱平均、水汽去除、噪声去除处理;所述的步骤(3)中光谱平均处理具体方法:每个测量对象均测量三次地物光谱,以三条光谱数据的平均值作为最终光谱数据;

所述的步骤(3)的噪声去除处理中对1450-1830nm、1886-2500nm范围进行小波去噪;

步骤(4)将上述步骤(3)处理后的地面原始光谱数据曲线建立微渗漏光谱数据库,获得油气微渗漏光谱曲线;

步骤(5)对上述步骤(4)中得到的油气微渗漏光谱曲线进行分析,得到油气微渗漏光谱曲线特征;

步骤(6)对上述步骤(5)中得到的油气微渗漏光谱曲线特征进行包络线去除,并进行吸收峰特征参数的提取;

步骤(7)利用掩膜提取烃及其蚀变的粘土化信息,即提取油气异常信息;所述的步骤(7)中采用掩膜技术提取在1730nm和2210nm处具有吸收指示特性的像元,在1730nm处的掩膜为:R1730-r>R1730且R1730<R1730+r;在2210nm处的掩膜为:R2210-r>R2210且R2210<R2210+r

步骤(8)根据步骤(4)中获取的油气微渗漏光谱曲线所构建的光谱数据库,利用光谱信息散度SID全波段匹配方法,对掩膜后的影像进行全波段匹配分类识别,提取出最终的油气微渗漏异常信息,所述的步骤(8)中

光谱信息散度SID定义为:

SID(A,B)=D(A||B)+D(B||A)

其中:

D(A||B)表示B关于A的相对熵,Pi、qi表示第i个波段反射率出现的概率。

2.根据权利要求1所述的一种油气微渗漏高光谱遥感识别方法,其特征在于:所述的步骤(2)中测量上述步骤(1)中地面高光谱数据的区域内微渗漏地段的断裂发育处、地层不整合面处的岩石、土壤地物光谱,共测量样本201个;同时测量该区域内的植被、屋顶油毡、农田的塑料薄膜和柏油路干扰地物光谱,测量样本60个。

3.根据权利要求1所述的一种油气微渗漏高光谱遥感识别方法,其特征在于:所述的步骤(6)中首吸收峰特征参数包括吸收位置、吸收深度、吸收面积、宽度、斜率、对称度。

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