[发明专利]油气微渗漏高光谱遥感识别方法有效
申请号: | 201510886245.3 | 申请日: | 2015-12-04 |
公开(公告)号: | CN106842348B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 童勤龙;刘德长;王茂芝;杨燕杰;余永安;徐本宏 | 申请(专利权)人: | 核工业北京地质研究院 |
主分类号: | G01V8/02 | 分类号: | G01V8/02 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 闫兆梅 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 油气 渗漏 光谱 遥感 识别 方法 | ||
1.一种油气微渗漏高光谱遥感识别方法,其特征在于,该方法具体包括如下步骤:
步骤(1)选择地面高光谱数据的区域;
步骤(2)选择具有油气微渗漏异常现象的地区作为测量对象,利用地面波谱仪,获取光谱数据;
步骤(3)对上述步骤(2)中获取的地面原始光谱数据进行光谱平均、水汽去除、噪声去除处理;所述的步骤(3)中光谱平均处理具体方法:每个测量对象均测量三次地物光谱,以三条光谱数据的平均值作为最终光谱数据;
所述的步骤(3)的噪声去除处理中对1450-1830nm、1886-2500nm范围进行小波去噪;
步骤(4)将上述步骤(3)处理后的地面原始光谱数据曲线建立微渗漏光谱数据库,获得油气微渗漏光谱曲线;
步骤(5)对上述步骤(4)中得到的油气微渗漏光谱曲线进行分析,得到油气微渗漏光谱曲线特征;
步骤(6)对上述步骤(5)中得到的油气微渗漏光谱曲线特征进行包络线去除,并进行吸收峰特征参数的提取;
步骤(7)利用掩膜提取烃及其蚀变的粘土化信息,即提取油气异常信息;所述的步骤(7)中采用掩膜技术提取在1730nm和2210nm处具有吸收指示特性的像元,在1730nm处的掩膜为:R1730-r>R1730且R1730<R1730+r;在2210nm处的掩膜为:R2210-r>R2210且R2210<R2210+r;
步骤(8)根据步骤(4)中获取的油气微渗漏光谱曲线所构建的光谱数据库,利用光谱信息散度SID全波段匹配方法,对掩膜后的影像进行全波段匹配分类识别,提取出最终的油气微渗漏异常信息,所述的步骤(8)中
光谱信息散度SID定义为:
SID(A,B)=D(A||B)+D(B||A)
其中:
D(A||B)表示B关于A的相对熵,Pi、qi表示第i个波段反射率出现的概率。
2.根据权利要求1所述的一种油气微渗漏高光谱遥感识别方法,其特征在于:所述的步骤(2)中测量上述步骤(1)中地面高光谱数据的区域内微渗漏地段的断裂发育处、地层不整合面处的岩石、土壤地物光谱,共测量样本201个;同时测量该区域内的植被、屋顶油毡、农田的塑料薄膜和柏油路干扰地物光谱,测量样本60个。
3.根据权利要求1所述的一种油气微渗漏高光谱遥感识别方法,其特征在于:所述的步骤(6)中首吸收峰特征参数包括吸收位置、吸收深度、吸收面积、宽度、斜率、对称度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于核工业北京地质研究院,未经核工业北京地质研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510886245.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种阵列式原子干涉重力梯度张量全分量的测量系统
- 下一篇:微针仪(NZ02)