[发明专利]基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法在审
申请号: | 201510889073.5 | 申请日: | 2015-12-04 |
公开(公告)号: | CN105547469A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 黄兴;齐宏;吕中原;阮世庭;乔要宾;阮立明;谈和平;许传龙;蔡小舒 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张利明 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 透镜 阵列 脉冲 激光 火焰 温度 尺度 探测 方法 | ||
技术领域
本发明属于高温热辐射测量技术领域。
背景技术
高温燃烧现象广泛存在于航空航天、能源动力、钢铁冶金、化工等领域,如火箭发动 机、燃气轮机、内燃机、电站锅炉、煤气化反应器等高温设备中。火焰温度场的测量对于 燃烧诊断具有十分重要的意义。常用的温度场测量方法主要包括接触式测温和非接触式测 温两类,其中非接触式测温方法因为其不干扰流场、测量精度高、实时连续测量等优点而 得到了越来越广泛的应用。光场成像技术是一种典型的非接触式测温技术,可通过一次成 像获取三维全场辐射数字化信息。
对于非接触式测温技术,其关键问题在于建立高效、准确、稳定的介质温度场重建算 法。参与性介质温度场反演属于典型的不适定问题,尤其是当介质的辐射特性参数未知时, 需要同时反演介质的温度场和辐射特性参数,这给问题求解带来了很大困难。
利用反演的方法测量半透明介质的辐射物性,通常需要利用半透明材料表面的扩散光 信号,目前对扩散光信号的测量主要有三种方法:时域测量、频域测量和稳态测量。时域 测量由于能够提供较多的介质信息,具有很高的信噪比和灵敏度,在半透明介质物性测量 中具有广阔的应用前景。
火焰光场探测中的热辐射传输过程,会涉及到空间、时间、角度、频率四个变量的多 个数量级变化,如:对于采用微透镜阵列技术的光场相机而言,由于被探测火焰与相机镜 头之间巨大的几何尺度差异,通过微透镜进行探测角度离散后的探测像元所代表的探测角 度范围与相机自身的探测角度范围又存在着两个数量级以上的差距,此时的泛尺度分析就 十分必要。
发明内容
本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求,现提供基于微透镜阵列与 脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法。
基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法,该方法是基于以下装置 实现的,所属装置包括:激光控制器1、激光头2、光电探测器4、数据采集处理系统5和 微透镜阵列光场相机6;
激光控制器1的激光控制信号输出端连接激光头2的激光控制信号输出端,光电探测 器4均匀分布在火焰3周围,光电探测器4的光电探测信号输出端连接数据采集处理系统 5的光电探测信号输入端,微透镜阵列光场相机6的断层三维辐射场信号输出端连接数据 采集处理系统5的断层三维辐射场信号输入端;
所述方法包括以下步骤:
步骤一:开启激光控制器1,使激光头2发射出的脉冲激光入射到火焰3上,然后使 激光头2顺时针旋转,且每次旋转的角度均为30°,直至激光头2旋转回初始位置,激光头 2每旋转一次则利用光电探测器4采集一次火焰3透射或反射出的激光,然后将光电探测 器4获得的所有光电探测信号发送至数据采集处理系统5中,数据采集处理系统5分别对 其获得的光电探测信号进行处理,获得火焰3边界的出射光谱辐射强度值Imi,i为激光头 2旋转次数,i=1,2,...,12;
步骤二:关闭激光控制器1,保持火焰3稳定,利用微透镜阵列光场相机6从单角度 成像获取火焰3的断层三维辐射场信号,然后将该断层三维辐射场信号发送至数据采集处 理系统5,数据采集处理系统5对断层三维辐射场信号进行处理,获得火焰3自身的出射 光谱辐射强度测量值In;
步骤三:将步骤一获得的火焰3边界的出射光谱辐射强度值Imi分别与步骤二获得的火 焰3自身的出射光谱辐射强度测量值In作差,获得消除了自辐射的光谱辐射强度测量值 Mi;
步骤四:根据逆问题算法假设火焰光谱辐射物性参数为k,将该火焰光谱辐射物性参 数k代入瞬态辐射传输方程,并对该瞬态辐射传输方程求解获得消除了自辐射的光谱辐射 强度估计值Ei;
步骤五:以步骤三获得的光谱辐射强度测量值Mi与步骤四获得的光谱辐射强度估计值 Ei的最小二乘作为火焰光谱辐射物性参数目标函数方程,并求解该火焰光谱辐射物性参数 目标函数方程的目标函数值,然后将该目标函数值与火焰光谱辐射物性参数的给定目标函 数阈值进行比较,判断目标函数值是否小于给定目标函数阈值,是则步骤四中假设的火焰 光谱辐射物性参数k为真实的火焰光谱辐射物性参数,然后执行步骤六,否则返回步骤四;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学,未经哈尔滨工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510889073.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种火焰探测器安装架
- 下一篇:一种振动传感光缆及其使用方法