[发明专利]一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法

权利要求书

1.一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法，其特征在于：所述方法步骤如下：

步骤1，测量极板间距H；

步骤2，测量极板间施加的电压U；

步骤3，测量金属微粒的质量m；

步骤4，确定微粒运动拍摄的帧频率f_c；

步骤5，测量金属微粒向上运动过程中竖直向上连续的位移y₁₁，y₁₂，y₁₃，……，y_1i，……，y_1n；

步骤6，测量金属微粒向下运动过程中竖直向上连续的位移y₂₁，y₂₂，y₂₃，……，y_2i，……，y_2n；

根据下式计算金属微粒向上运动过程中的带电量q_-：

其中，n>5，n>i>1，g为重力加速度；

根据下式计算金属微粒向下运动过程中的带电量q_-：

其中，n>5，n>i>1，g为重力加速度。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述步骤1中通过累积法测量金属微粒的质量m。

3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述步骤2中采用水平仪及游标卡尺，调整电极水平，并量取极板间距H。

4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述方法的用的装置包括：高压电极、接地电极和真空密封罐体(5)。

5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于：所述高压电极包括：高压接线电极(1)和与其连接的上极板(7)；

所述接地电极包括：地接线电极(2)和与其连接的下极板(6)。

6.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于：所述真空密封罐体(5)上设有通光孔(3)和观察孔(4)。