[发明专利]一种电子元件定位方法及装置

说明书

本发明公开了一种电子元件定位方法，包括如下步骤：基于预设尺寸的检测窗截取待检测电路板图像上的子图像；根据已建立好的预定电子元件的检测模型对所述子图像进行检测；其中，所述预定电子元件的检测模型通过对正样本图片及负样本图片进行训练获得，所述正样本图片为包含有所述预定电子元件的图片，所述负样本图片为不包含有所述预定电子元件的图片；当确定所述子图像为所述预定电子元件的图像时，将所述子图像标记为目标子图像，并记录所述目标子图像在所述待检测电路板图像上的位置信息。本发明还公开了一种电子元件定位装置，可快速准确的在待检测电路板图像上定位出预定电子元件。

技术领域

本发明涉及自动光学检测领域，尤其涉及一种电子元件的定位方法及装置。

背景技术

自动光学检测是指利用光学成像的方式取得成品的表面状态，并通过影像处理来检测成品的表面是否存在异物或表面瑕疵。目前，自动光学检测被广泛应用于电路板的质量检测。检测时，相关的检测装置通过摄像头自动扫描电路板获取图像，提取每个电子元件的局部图像，并通过图像处理技术，判断电路板上的电子元件是否存在错插、漏插或反插等缺陷，最后将疑似缺陷的电子元件显示或标记出来，方便查看与检修。

在检测电子元件缺陷之前，需先制作电路板的标准版式，特别地，需要标记电路板上每个电子元件的位置。现有的方案主要有两种：一是根据电路板的设计文件导出电子元件的位置信息；二是采用人工操作的方法在电路板上设置每个电子元件的位置。但是第一个方案需要使用到电路板的设计文件，保密性不好，并且有时候无法获取到设计文件；而第二个方案在电子元件数目较多时，不仅耗时，而且容易出现漏设电子元件的现象，无法满足使用需求。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的在于提供一种电子元件定位方法及装置，其可快速、准确的在电路板的图像上定位出电子元件的位置。

本发明提供了一种电子元件定位方法，包括如下步骤：

基于预设尺寸的检测窗截取待检测电路板图像上的子图像；

根据已建立好的预定电子元件的检测模型对所述子图像进行检测；其中，所述预定电子元件的检测模型通过对正样本图片及负样本图片进行训练获得，所述正样本图片为包含有所述预定电子元件的图片，所述负样本图片为不包含有所述预定电子元件的图片；

当确定所述子图像为所述预定电子元件的图像时，将所述子图像标记为目标子图像，并记录所述目标子图像在所述待检测电路板图像上的位置信息。

作为上述方案的改进，在所述根据已建立好的预定电子元件的检测模型对所述子图像进行检测之前，还包括：

采集待检测的预定电子元件的正样本图像和负样本图片；

利用adaboost级联分类器算法对N个训练样本学习得到第一个弱分类器，将被第一个弱分类器判定为正样本图片的训练样本和其他的新的训练样本一起构成一个新的N个训练样本，通过adaboost级联分类器算法对这N个训练样本学习得到第二个弱分类器；所述训练样本包括正样本图片和负样本图片，N为大于1的整数；

将通过连续迭代获得的至少两个弱分类器级联组成预定电子元件的检测模型。

作为上述方案的改进，所述正样本图片的尺寸为归一化后的尺寸，且任一所述负样本图片的尺寸不小于所述归一化后的尺寸。

作为上述方案的改进，所述预定电子元件为宽高比一致的电子元件。

作为上述方案的改进，在所述当确定所述子图像为所述预定电子元件的图像时，将所述子图像标记为目标子图像，并记录所述目标子图像在所述待检测电路板图像上的位置信息之后，还包括：

对所述目标子图像添加标示信息；

根据所述目标子图像的位置信息将所述标示信息标示在所述待检测电路板图像上。