[发明专利]一种服务器设备机内测试BIT设计方法

权利要求书

1.一种服务器设备机内测试BIT设计方法，其特征在于：所述服务器在系统结构上按照整机及单元划分为两个层次：模块级现场可更换单元LRU和芯片级功能电路，每个功能单元可独立进行测试；服务器各功能单元之间主要通过网络电缆进行连接，可通过管理单元对各单元的电压、温度及其工作状态进行监控和管理；

所述方法按框架结构分为三级：分布式测试及采集处理、信息状态集中处理、显示及操作，实现过程如下：

第一级、分布式测试及采集处理：通过自测试及采集电路，直接嵌入各单元LRU中实现；

第二级、信息状态集中处理，通过整机的采集处理电路，管理单元通过管理总线实时采集自测试及采集处理电路所测得的状态信息；

第三级、显示及操作：整机的信息状态通过嵌装在管理单元上的显控终端进行显示和处理；并且可通过管理网络对外发布整机的状态。

2.根据权利要求1所述的一种服务器设备机内测试BIT设计方法，其特征在于：所述第一级分布式测试及采集处理过程，机内测试BIT电路通过IPMB读取各功能电路传感器信息，通过芯片JTAG口进行TDI输入并将TDO与写入寄存器的标准值比较，判断芯片是否正常，提供故障报警、故障诊断和故障处理功能。

3.根据权利要求1或2所述的一种服务器设备机内测试BIT设计方法，其特征在于：所述方法测试过程在系统中采用连续监控、连续检测的机制。

4.根据权利要求3所述的一种服务器设备机内测试BIT设计方法，其特征在于：所述方法在实现故障检测功能时，为每个检测模块设计一个故障计数器，计数器值初始化为0，当功能模块检测到一次故障时，故障计数器加1；进入下一检测周期，若故障消失，则故障计数器减1，当计数达到阈值，进行故障报警。