[发明专利]用于提供输出参数的装置和方法以及传感器设备

说明书

本发明涉及用于提供输出参数的装置和方法以及传感器设备。一种用于提供输出参数的装置包括配置为重复地确定输出参数值的输出参数发生器电路。输出参数发生器电路包括强制用于确定输出参数值的至少一个电路块。此外，该装置包括：输出接口电路，配置为重复地传输输出参数到接收器；以及测试电路，配置为重复地测试输出参数发生器电路的至少一个强制电路块的基本功能。输出参数发生器电路的至少一个强制电路块在基本功能测试期间不可用于确定输出参数值。

技术领域

实施例涉及电子设备的测试概念，并且特别地涉及用于提供输出参数的装置和方法以及传感器设备。

背景技术

电子设备的许多应用依赖于电子设备的高可靠性和有效性。现代的汽车应用要求在汽车系统中使用安全兼容的IC(集成电路)。因此，根据实际参考标准ISO 26262，芯片必须以ASIL(汽车安全完整性水平)来识别，因而满足在安全寿命周期过程期间的一组规则，并且实施一组安全机制以确保它在故障情形下的可靠性。该ISO 26262规定了制造ASIL零件、部件或整个系统的程序。

例如，在角度感测应用中需求高的安全水平，因此，除了技术要求外，角度传感器IC还必须处理安全要求，并且完全满足它们。如果一方面ISO发展过程可以保证安全的符合性，则另一方面芯片的硬件度量(metrics)将它交付(address)ASIL等级。等级越高，IC就越安全，从而利用更广泛市场以及一组应用的开放。由于影响度量计算的设计因素，达到最高的度量通常是一种挑战。

将更高的度量等级关联时间失效(FIT)的更低数目。FIT是临时硬件失效识别符，并且FIT取决于芯片面积和残差故障的数目。可以降低残差故障FIT，从而对芯片块应用安全机制以使其安全。该机制可以是下述两种情况：处于芯片内部，从而表示揭示故障块的内部特征；或者以外部措施的形式处于芯片外部。

例如，为了实现高的ASIL水平，单点故障度量(SPFM)以及潜在故障度量(LFM)必须达到高的值(例如＞95％)。高的SPFM的实现依赖于在操作期间执行的机制。另一方面，LFM与在启动IC(启动BIST(启动内置自测试))时执行的安全机制密切相关。

发明内容

一些实施例涉及用于提供输出参数的装置。该装置包括输出参数发生器电路，其配置为重复地确定输出参数值。输出参数发生器电路包括强制用于确定输出参数值的至少一个强制电路块。进一步，该装置包括：输出接口电路，配置为重复地传输输出参数到接收器；以及测试电路，配置为重复地测试输出参数发生器电路的至少一个强制电路块的基本功能。输出参数发生器电路的至少一个强制电路块在基本功能测试期间不可用于确定输出参数值。

一些实施例涉及用于提供输出参数的装置。该装置包括输出参数发生器电路，其配置为确定输出参数值。输出参数发生器电路包括用于确定输出参数值的至少一个强制信号路径。此外，该装置包括测试电路，其配置为通过提供输入测试数据到强制信号路径的输入端、并且分析由输入测试数据引起的以及从强制信号路径的输出端接收的输出测试数据，重复地测试输出参数发生器电路的至少一个强制信号路径的基本功能。该测试电路被配置为在确定预定义数目的输出参数值之后以相等的时间间隔或者在从外部控制单元接收到触发之后重复地执行基本功能测试。

附图说明

下面将仅通过示例，并且参照附图描述装置和/或方法的一些实施例，在附图中

图1示出用于提供输出参数的装置的方框图；

图2示出转向角随时间的变化的示意图；

图3a示出传感器设备的方框图；

图3b示出另一传感器设备的方框图；

图3c示出另一传感器设备的方框图；

图4示出测试调度(scheduling)和失效风险的相应发展的示意图；