[发明专利]一种子阵级相控阵雷达的测角方法

权利要求书

1.一种子阵级相控阵雷达的测角方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

1)对于一个M子阵的子阵级相控阵阵列，每个子阵有独立的接收通道；用于测角的多通道数据记为s，向量维数为M×1，即s＝[s₁,s₂,…,s_M]^T，其中s_m为第m子阵通道的数据，包含了目标回波、干扰和噪声，符号T表示转置；

2)计算干扰抑制矩阵B；

3)计算各个子阵的等效相位中心；

4)确定空间采样点，假定波束主瓣指向方位角为φ₀、俯仰角为θ₀；方位角测角范围为[-φ_Δ,φ_Δ]，俯仰角测角范围为[-θ_Δ,θ_Δ]；目标方位角为φ_T、俯仰角为θ_T，目标在测角范围以内，即有φ₀-φ_Δ≤φ_T≤φ₀+φ_Δ，θ₀-θ_Δ≤θ_T≤θ₀+θ_Δ，在测角范围内的空域取K个空间采样点，得到K组方位角与俯仰角组合，其中第k组角度记为(φ(k),θ(k))，即有φ₀-φ_Δ≤φ(k)≤φ₀+φ_Δ，θ₀-θ_Δ≤θ(k)≤θ₀+θ_Δ，其中k＝1,2,…,K；K个空间采样点覆盖测角范围；

5)计算每个空间采样点的子阵加权向量，从角度(φ₀,θ₀)发射的电磁波到达阵列中心的距离与到达第m子阵等效相位中心的距离的差值记为β₀，从角度(φ(k),θ(k))发射的电磁波到达阵列中心的距离与到达第m子阵等效相位中心的距离的差值记为β_m(k)，当前雷达频点为f_c，光速为c₀，则第k个空间采样点对应的M×1维的子阵加权权值向量记为w(k)＝[w₁(k),w₂(k),…,w_M(k)]^T，由下式求得：

w(k)＝Ba(k)

其中

其中exp为e的指数函数，j为虚数单位；

6)计算每个空间采样点的波束扫描输出G(k)；

7)找出波束扫描输出G(k)的最大值，对应的空间采样点的角度即是目标角度，即假如取得最大值，目标的测角结果为