[发明专利]一种轴类部件微变形测量的方法在审
申请号: | 201510896506.X | 申请日: | 2015-12-08 |
公开(公告)号: | CN105403167A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
发明(设计)人: | 孙万超;高翔;燕群;黄文超 | 申请(专利权)人: | 中国飞机强度研究所 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11526 | 代理人: | 刘丽萍 |
地址: | 710065*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 部件 变形 测量 方法 | ||
1.一种轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述轴类部件微变形测量的方法包括如下步骤:
步骤1:在待测轴类部件的预测量位移位置上设置标志点,并获取所述待测轴类部件的几何参数标志点坐标,该坐标为第一坐标;
步骤2:使待测轴类部件受力,从而受力变形,并获得在不同时刻多次记录标志点的位移,从而获得各个时刻的标志点的位移坐标;
步骤3:根据所述步骤1以及所述步骤2中的数据,通过坐标增量法计算待测轴类部件的扭转角度、摆动角度以及轴向位移。
2.如权利要求1所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述标志点为多个,且至少包括轴类部件的中心轴线上的点以及外圆周壁上的点。
3.如权利要求2所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述标志点为三个,分别称为A点、B点以及O点,其中,O点为轴类部件的中心轴线上的点。
4.如权利要求3所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述待测轴类部件的几何参数为待测轴类部件的长度参数h。
5.如权利要求4所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述步骤3中的坐标增量法具体为:
建立包含标志点的三维坐标系,从而得到三个标志点的第一坐标,分别为:A点坐标:A(XaYaZa);B点坐标:B(XbYbZb);O点坐标:O(XoYoZo);
并将所述步骤2所得到的时刻为t时的标志点的位移坐标带入该坐标系,从而得到A点坐标在t时的坐标B点坐标在t时的坐标以及O点坐标在t时的坐标
将所述A点坐标B点坐标以及O点坐标的在t时的坐标投影至各个点的第一坐标的延长线上,获得各个点的投影坐标,具体为:A点投影坐标:B点投影坐标:O点投影坐标:
通过公式计算待测轴类部件在t时刻的轴向长度L以及轴向位移△L;
通过公式以及轴向长度L求得偏摆角β;
通过公式求得扭转角度α。
6.如权利要求1所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述通过公式计算待测轴类部件在t时刻的轴向长度L的公式具体为:
其中,
轴向位移具体为:
7.如权利要求6所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述通过公式以及轴向长度L求得偏摆角β中的公式具体为:
其中,K为:
8.如权利要求7所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述通过公式求得扭转角度α中的公式具体为:
9.如权利要求1所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述步骤2通过高速摄像系统进行记录。
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