[发明专利]一种轴类部件微变形测量的方法在审

专利信息
申请号: 201510896506.X 申请日: 2015-12-08
公开(公告)号: CN105403167A 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 孙万超;高翔;燕群;黄文超 申请(专利权)人: 中国飞机强度研究所
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11526 代理人: 刘丽萍
地址: 710065*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 部件 变形 测量 方法
【权利要求书】:

1.一种轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述轴类部件微变形测量的方法包括如下步骤:

步骤1:在待测轴类部件的预测量位移位置上设置标志点,并获取所述待测轴类部件的几何参数标志点坐标,该坐标为第一坐标;

步骤2:使待测轴类部件受力,从而受力变形,并获得在不同时刻多次记录标志点的位移,从而获得各个时刻的标志点的位移坐标;

步骤3:根据所述步骤1以及所述步骤2中的数据,通过坐标增量法计算待测轴类部件的扭转角度、摆动角度以及轴向位移。

2.如权利要求1所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述标志点为多个,且至少包括轴类部件的中心轴线上的点以及外圆周壁上的点。

3.如权利要求2所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述标志点为三个,分别称为A点、B点以及O点,其中,O点为轴类部件的中心轴线上的点。

4.如权利要求3所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述待测轴类部件的几何参数为待测轴类部件的长度参数h。

5.如权利要求4所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述步骤3中的坐标增量法具体为:

建立包含标志点的三维坐标系,从而得到三个标志点的第一坐标,分别为:A点坐标:A(XaYaZa);B点坐标:B(XbYbZb);O点坐标:O(XoYoZo);

并将所述步骤2所得到的时刻为t时的标志点的位移坐标带入该坐标系,从而得到A点坐标在t时的坐标B点坐标在t时的坐标以及O点坐标在t时的坐标

将所述A点坐标B点坐标以及O点坐标的在t时的坐标投影至各个点的第一坐标的延长线上,获得各个点的投影坐标,具体为:A点投影坐标:B点投影坐标:O点投影坐标:

通过公式计算待测轴类部件在t时刻的轴向长度L以及轴向位移△L;

通过公式以及轴向长度L求得偏摆角β;

通过公式求得扭转角度α。

6.如权利要求1所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述通过公式计算待测轴类部件在t时刻的轴向长度L的公式具体为:

其中,

轴向位移具体为:

7.如权利要求6所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述通过公式以及轴向长度L求得偏摆角β中的公式具体为:

其中,K为:

8.如权利要求7所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述通过公式求得扭转角度α中的公式具体为:

9.如权利要求1所述的轴类部件微变形测量的方法,其特征在于,所述步骤2通过高速摄像系统进行记录。

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