[发明专利]一种精确诊断串联SQUID故障的方法在审
申请号: | 201510898342.4 | 申请日: | 2015-12-08 |
公开(公告)号: | CN105372612A | 公开(公告)日: | 2016-03-02 |
发明(设计)人: | 陈钊;刘建设;李铁夫;陈炜 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贾玉健 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精确 诊断 串联 squid 故障 方法 | ||
技术领域
本发明属于天文探测技术领域,适用于串联SQUID放大器以及两级SQUID放大器的制备、样品性能及可靠性分析,特别涉及一种精确诊断串联SQUID故障的方法。
背景技术
近年来,SQUID作为目前最灵敏的磁场探测器件之一,可以被用于生物磁场的探测,可以被用于机轮的无损检测,材料磁性研究,核磁共振测量以及用于读出天文探测的低温粒子探测器等。而单个电流偏置的SQUID放大器输出信号电压相对较小,可以通过多个相同SQUID串联的办法来增大输出电压幅度,并使其输出电压可以直接连接到室温放大器。对于多个相同SQUID串联,传统的通过串联电阻值大小判断串联个数难以确定坏的SQUID的具体位置,并且当并联电阻数目过多时,由于工艺偏差可能导致有坏的SQUID未被分析出来。通过对比串联SQUID调制曲线深度与单个SQUID调制深度,由于偏置电流的不同对应调制深度的不同,导致难以分辨是否有坏的SQUID以及串联SQUID的个数,并且同样无法确定坏的SQUID的具体位置。
发明内容
为了克服上述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种精确诊断串联SQUID故障的方法,可以精确判断串联SQUID中每个SQUID的好坏。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
一种精确诊断串联SQUID故障的方法,使各串联SQUID的输入线圈分别具有不同电感,对串联SQUID调制曲线进行傅里叶变换得到调制曲线的频谱图,通过分析对应不同频率的幅度,幅频特性曲线中缺失的峰值,其对应的SQUID即为故障点。
由于调制曲线为周期性函数,其中幅频曲线为调制曲线的傅里叶变换,因此频谱图中,幅度与该电流偏置点的调制深度成正比关系;根据单个SQUID的不同偏置点对应的幅度不同,选择对应幅度最大的偏置点,该点即为该SQUID的最佳偏置点。
具体地,可以通过调整线圈圈数的不同,使得各SQUID的输入线圈分别具有不同电感。
与现有技术相比,本发明可以精确分辨出串联SQUID中单个SQUID的好坏并能确定坏的SQUID的位置,同时根据幅度可以判断每个SQUID处于该电流偏置点的调制深度以及分析每个SQUID的最佳偏置点。
附图说明
图1是本发明不同电感的输入线圈对应的串联SQUID版图设计示意图。
图2是图1串联SQUID中第一个SQUID细节图。
图3是图1串联SQUID中第二个SQUID细节图。
图4是图1串联SQUID中第三个SQUID细节图。
图5是图1串联SQUID中第四个SQUID细节图。
图2-图5中,用7表示约瑟夫森结,用8表示输入线圈,用9表示导线,用10表示反馈线圈。
图6是本发明串联SQUID的制备工艺示意图。
图6中,用1表示SiO2,用2表示Si,用3表示Photoresist,用4表示Nb,用5表示Al/AlOx,用6表示Au。
图7是图1单SQUID放大器电路结构图。
图8是本发明仿真参数1的调制曲线图。
图9是本发明仿真参数1的幅频特性曲线图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例详细说明本发明的实施方式。
如图1所示,本发明基于微电子平面工艺制备输入线圈与SQUID之间互感不同的串联SQUID,通过在版图上对串联SQUID设计不同电感的输入线圈使得其与SQUID互感不同。当制备出串联SQUID并可以得到调制曲线后,对调制曲线进行傅里叶变换得到调制曲线的频谱图;通过分析对应不同频率的幅度可以精确分辨出串联SQUID中单个SQUID的好坏并能确定坏的SQUID的位置,并根据幅度可以判断每个SQUID处于该电流偏置点的调制深度以及分析每个SQUID的最佳偏置点。
图1中,共表示出了四个串联的SQUID,其中,第一个SQUID如图2所示,其输入线圈为一圈,第二个SQUID如图3所示,其输入线圈为两圈,第三个SQUID如图4所示,其输入线圈为三圈,第四个SQUID如图5所示,其输入线圈为四圈。
可见,各个SQUID中,均具有约瑟夫森结7、输入线圈8、导线9和反馈线圈10。其中,各个SQUID的约瑟夫森结7、导线9和反馈线圈10的结构一致,仅输入线圈8的圈数各不相同。
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