[发明专利]一种多光轴平行度检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201510900782.9 申请日: 2015-12-08
公开(公告)号: CN105423958B 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 余壮;王军义;崔晓非 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01B11/27;G01M11/02
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 陈晓辉
地址: 471009 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 光轴 平行 检测 装置 方法
【说明书】:

发明公开了一种多光轴平行度检测装置及检测方法,多光轴平行度检测方法包括以下步骤,确定检测参考基准,调节平行光管处于待检测光学系统的第一传感器、第二传感器中的第一传感器的视场范围内,给待测的光学系统通电,并使第一传感器的十字光标对准平行光管的分划板十字线;调节平行光管与光学系统的距离,使得平行光管处于第二传感器的视场范围内;观察第二传感器的十字光标与平行光管的分划板十字线的相对位置。利用本发明的方法,可以不依赖于大口径的平行光管,使得结构也相对简单,降低了成本。

技术领域

本发明涉及一种多光轴平行度检测装置及检测方法。

背景技术

多光轴平行度是多传感器光电武器装备正常运行的基本保证,因此,光轴平行度成为多光轴光电装备的一个重要参数,不仅需要在系统设计、安装、检修过程中进行准确的检测和调试,而且由于环境变化会造成光机系统的失调,也需在使用过程中适时地进行校验。

常用的光轴平行度检测方法有投影靶板法、激光光轴仪法、五棱镜法和分光路投射法,这几种方法光学系统相对复杂,还有大口径平行光管法,大口径平行光管成本较高,且对一些光轴距离较大的光学系统该方法无法测量。

发明内容

本发明的目的是提供能够测量光轴距离较大的光学系统的多光轴平行度检测方法。同时本发明还提供一种结构简单的、实施该检测方法的多光轴平行度检测装置。

为了实现以上目的,本发明中多光轴平行度检测方法的技术方案如下:多光轴平行度检测方法,包括以下步骤,1)确定检测参考基准,调节平行光管处于待检测光学系统的上下设置的第一传感器、第二传感器中的第一传感器的视场范围内,此时平行光管不在第二传感器的视场范围内,给待测的光学系统通电,并使第一传感器的十字光标对准平行光管的分划板十字线;2)调节平行光管与光学系统的距离,使得平行光管处于第二传感器的视场范围内;3)观察第二传感器的十字光标与平行光管的分划板十字线的相对位置。

本发明多光轴平行度检测装置采用如下技术方案,多光轴平行度检测装置包括检测平台,检测平台上设有可沿左右方向左右移动的移动装置,移动装置上设有轴线沿左右方向延伸的平行光管,所述检测平台上于移动装置的右方设有用于固定待检测的光学系统的固定夹具,所述移动装置的上下方向的行程能够满足平行光管处于所述光学系统的传感器的视场范围内。

所述第一传感器为透射式传感器,所述第二传感器为电视传感器,所述电视传感器连接有监视器,所述第二传感器的十字光标与平行光管的分划板十字线的相对位置通过所述监视器成像显示。

所述移动装置包括固定在检测平台上的轴线沿左右方向延伸的固定导轨、导向装配在固定导轨上的沿上下方向延伸的活动导轨,所述平行光管设置在所述活动导轨上。

本发明的有益效果:在测量光学系统的光轴平行度时,先利用平行光管与光学系统中的一个传感器对准,作为测量基准。然后改变平行光管相对于光学系统的距离,使平行光管处于另一个传感器的视场范围内,通过观察该另一个传感器的十字光标是否与平行光管的分划板十字线对准,如果对准则证明光轴平行,如果对不准,则能够反应出两光轴的平行度误差。利用本发明的方法,可以不依赖于大口径的平行光管,使得结构也相对简单,降低了成本。本发明可以测量光轴距离较大的光学系统的光轴平行度。

附图说明

图1是本发明多光轴平行度检测装置的结构示意图;

图2是图1中的移动装置的结构示意图;

图3是本发明多光轴平行度检测装置在使用状态的示意图;

图4是平行光管的十字线与第一传感器的十字光标的对准示意图;

图5是平行光管的十字线与第二传感器的十字光标的位置示意图。

具体实施方式

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