[发明专利]一种变频组件自动测试系统

说明书

技术领域

本发明属于变频组件设备技术领域，具体涉及一种变频组件自动测试系统。

背景技术

上/下变频组件广泛应用于微波通信、雷达、电子对抗和制导仪器等电子系统设备，是这些电子系统设备中的核心组件之一。因其指标繁多，测试工作量庞大，自动测试就成为必要的测试手段。如图1所示为目前应用最多的自动测试系统及测试方案，传统测试系统及测试方案有如下缺陷：所用仪表众多、价格昂贵，测试成本非常高；系统接线非常复杂。

发明内容

针对上述现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种可避免出现上述技术缺陷的变频组件自动测试系统。

为了实现上述发明目的，本发明采用的技术方案如下：

一种变频组件自动测试系统，包括上位机、控制模块和测试用仪表，其中：所述测试用仪表与所述上位机相连接；所述控制模块包括MCU、CPLD、数字时钟、RS232通信电路、参考晶振、三功分器、三个本振锁相环电路、脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路，所述参考晶振与所述三功分器相连接，所述三个本振锁相环电路分别与所述三功分器相连接，所述MCU与所述三个本振锁相环电路相连接，所述RS232通信电路与所述MCU相连接，所述MCU与所述CPLD相连接，所述脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路分别与所述CPLD相连接。

进一步地，所述上位机上设置有2路RS232串口、1路LAN接口和3路USB2.0接口。

进一步地，所述MCU为STM32F107VCT6。

进一步地，所述参考晶振为恒温晶振PFOC8-0118。

进一步地，所述CPLD为EPM570T100I5。

进一步地，所述上位机上运行WindowsXP或者Windows7操作系统。

进一步地，所述测试用仪表为示波器和频谱仪。

一种变频组件自动测试方法，包括以下步骤：

步骤1)测试软件加载仪表驱动，如果加载失败则先配置仪表驱动，配置完成后重新加载，加载成功后进入下一步；

步骤2)调用合适的函数初始化仪表；

步骤3)测试软件加载测试模板，如果加载失败则先配置测试模板，配置完成后重新加载测试模板，加载成功后进入下一步；

步骤4)加载测试项；

步骤5)设置控制模块状态；

步骤6)设置测试仪表状态；

步骤7)上位机软件通过仪表控制接口读取测试仪表读数，进行数据拟合，计算出测试结果并将测试结果保存到数据库中；

步骤8)返回步骤4)，加载下一测试项，重复步骤4)～7)，进行下一项测试，直到所有测试项都测试完成；

步骤9)根据模板要求生成测试报告。

本发明提供的变频组件自动测试系统，在控制模块中集成了三路本振源和8路脉冲输出控制信号，替代了现有技术方案中的本振信号源1～3和脉冲发生器，采用宽带捷变频锁相环技术产生变频组件需要的本振一、本振二和本振三射频信号，有效替代了原有测试方案中所用的射频信号源，采用CPLD电路产生脉冲信号替代原有方案中用到的脉冲发生器，极大地降低了测试成本，省却了射频仪表的控制连线，简化了测试环境，可以很好地满足实际应用的需要。

附图说明

图1为现有技术的变频组件自动测试系统的电路框图；

图2为本发明的变频组件自动测试系统的电路框图；

图3为本发明的控制模块的电路框图；

图4为使用本发明的变频组件自动测试系统的变频组件自动测试方法的流程图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图和具体实施例对本发明做进一步说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图2所示，一种变频组件自动测试系统，包括上位机、控制模块和测试用仪表，其中：所述测试用仪表与所述上位机相连接；所述测试用仪表为示波器和频谱仪；所述控制模块包括MCU、CPLD、数字时钟、RS232通信电路、参考晶振、三功分器、三个本振锁相环电路、脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路，所述参考晶振与所述三功分器相连接，所述三个本振锁相环电路分别与所述三功分器相连接，所述MCU与所述三个本振锁相环电路相连接，所述RS232通信电路与所述MCU相连接，所述MCU与所述CPLD相连接，所述脉冲驱动电路和标准TTL驱动电路分别与所述CPLD相连接。

上位机(含控制软件)：上位机包括硬件和控制软件两部分。