[发明专利]一种系统磁盘分析方法和装置

说明书

本发明公开了一种系统磁盘分析方法和装置。所述方法包括：确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；建立所述相关磁盘参数的分析顺序；对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。本发明的技术方案能够准确分析待测系统磁盘的性能情况，降低性能测试的测试难度，提高性能测试分析的效率和性能测试的质量，有效地指导系统性能的评估、系统缺陷的定位与分析。

技术领域

本发明涉及性能测试技术领域，特别涉及一种系统磁盘分析方法和装置。

背景技术

相对软件的功能测试，软件的性能测试具有更高的专业性和复杂度，性能测试的主要手段是通过模拟真实业务的压力对被测系统进行加压，研究被测系统在不同压力情况下的表现，找出潜在的性能瓶颈。该过程的实现需要经过从测试场景的设计到测试脚本的编写，再到测试环境的配置和测试结果的分析，才能最终实现被测系统的调试与优化。

性能测试具有功能测试所不具备的专业性，性能测试的难度体现在性能测试用例的设计、测试结果的分析等过程，尤其是分析测试结果，分析难度很大，分析过程要求测试人员能够综合应用操作系统、网络、数据库服务器、应用服务器、WEB服务器等软硬件多方面的专业知识，在大量的测试结果数据中进行分析和推理，最终达到验证待测系统能否满足性能需求以及业务需求。即一个性能测试项目的质量如何，跟测试人员的素质、能力和经验是密不可分的。

目前，已经有不少的工具能够完成性能测试，综合利用这些测试工具也能测出比较全面的性能指标数据，但是对于性能测试的测试结果数据的分析，目前还是依靠比较专业的性能测试人员并结合性能测试经验才能够完成，因此在对同样的测试结果进行分析时，可能由于测试人员的不同得出的结论差别较大，可能会将性能优化引向不同的方向。

性能测试结果数据常见的分析指标包括内存、CPU、磁盘，并发用户，响应时间等，其中磁盘最容易出现性能瓶颈，磁盘是计算机系统中表现最慢的子系统之一。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提供一种系统磁盘分析方法和装置，以降低性能分析过程中磁盘问题分析与定位的难度，提高性能测试的分析效率和性能测试的质量。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一方面，本发明提供了一种系统磁盘分析方法，该方法包括：

确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；

建立所述相关磁盘参数的分析顺序；

对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。

另一方面，本发明还提供了一种系统磁盘分析装置，该系统磁盘分析装置包括：

磁盘参数确定单元，用于确定待测系统需要测试的相关磁盘参数，以及每种磁盘参数的分析规则；

分析顺序建立单元，用于建立所述相关磁盘参数的分析顺序；

磁盘分析单元，用于对所述待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据，按照所述相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则进行磁盘分析，并生成磁盘分析报告。

本发明实施例的有益效果是：本发明建立待测系统需要测试的每种相关磁盘参数的分析规则和相关磁盘参数的分析顺序，利用相关磁盘参数的分析顺序和每种磁盘参数的分析规则对待测系统在各类场景下的磁盘性能测试数据进行磁盘分析，能够有效地降低磁盘性能分析过程中磁盘问题分析与定位的难度，从而降低了性能测试的门槛，使更多的测试人员能够胜任性能测试工作；而且能够显著地降低测试人员的工作量，提升性能测试的分析效率和性能测试的质量，缩短性能测试周期，降低性能测试成本。