[发明专利]一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法在审

专利信息
申请号: 201510907290.2 申请日: 2015-12-09
公开(公告)号: CN105467011A 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 郑金华;曾兵;盛涛;满明瑞;吴凯;钱云翔 申请(专利权)人: 上海复合材料科技有限公司
主分类号: G01N29/06 分类号: G01N29/06
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中;樊昕
地址: 201112 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 超声 扫描 检测 缺陷 位置 精确 定位 方法
【权利要求书】:

1.一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:在已经标定好三维坐标系统的水平工作台上放置长方体形工件,并记录工件的 长宽高;

S2:在超声C扫描检测系统中输入工件的长宽高参数,并调节超声参数;

S3:用超声探头对工件的水平探测面进行水平扫描,得到一幅包含扫描位置信息与 超声检测信号相对应的二维平面超声C扫描图像,确定图像中缺陷信号的平面位置坐标;

S4:将十字激光器移动至平面位置坐标处,十字激光器中的十字光斑在工件中的投 影即为缺陷的位置,配合十字光斑即将工件中的缺陷平面投影准确的描绘出来。

2.根据权利要求1所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 所述S1的具体方法包括:在已经调试好三维坐标系统的超声C扫描装置的探头旁边 固定十字激光器,激光器射出方向与超声探头的声束方向一致,即都垂直于坐标系 的XY平面,并确保十字激光器的十字线分别平行于坐标系的X轴和Y轴,通过测 试和计算,得出超声探头中心与十字光斑在XY平面上的相对坐标。

3.根据权利要求2所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 通过十字激光器的十字线校准工件摆放的位置,使得工件的长和宽与坐标系的X轴和Y 轴平行,并将激光十字光斑对准工件左上角,通过超声C扫描软件查看得知超声探头声 束在XY平面的坐标,根据超声探头和激光器的相对坐标得到激光十字光斑在XY平面的 坐标。

4.根据权利要求2所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 通过测试和计算得出超声探头中心与十字光斑在XY平面上的相对坐标的方法包括: 在已经标定好的三维坐标系中得到探头的中心坐标为(x1,y1),因为是定XY平面 的相对坐标,因此Z轴可以忽略,而十字光斑在该三维坐标系中的实际坐标直接测 出为(x2,y2),即可得出超声探头中心与十字光斑在XY平面上的相对坐标为 (x2-x1,y2-y1)。

5.根据权利要求3所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 对于一个规则工件,通过十字激光的2条线来校准工件摆放的位置。

6.根据权利要求1所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 所述S2中,所述超声参数是根据超声信号波形、工件厚度、工件声速和相关检测标准 来确定。

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