[发明专利]一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法在审
申请号: | 201510907290.2 | 申请日: | 2015-12-09 |
公开(公告)号: | CN105467011A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 郑金华;曾兵;盛涛;满明瑞;吴凯;钱云翔 | 申请(专利权)人: | 上海复合材料科技有限公司 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中;樊昕 |
地址: | 201112 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超声 扫描 检测 缺陷 位置 精确 定位 方法 | ||
1.一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:在已经标定好三维坐标系统的水平工作台上放置长方体形工件,并记录工件的 长宽高;
S2:在超声C扫描检测系统中输入工件的长宽高参数,并调节超声参数;
S3:用超声探头对工件的水平探测面进行水平扫描,得到一幅包含扫描位置信息与 超声检测信号相对应的二维平面超声C扫描图像,确定图像中缺陷信号的平面位置坐标;
S4:将十字激光器移动至平面位置坐标处,十字激光器中的十字光斑在工件中的投 影即为缺陷的位置,配合十字光斑即将工件中的缺陷平面投影准确的描绘出来。
2.根据权利要求1所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 所述S1的具体方法包括:在已经调试好三维坐标系统的超声C扫描装置的探头旁边 固定十字激光器,激光器射出方向与超声探头的声束方向一致,即都垂直于坐标系 的XY平面,并确保十字激光器的十字线分别平行于坐标系的X轴和Y轴,通过测 试和计算,得出超声探头中心与十字光斑在XY平面上的相对坐标。
3.根据权利要求2所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 通过十字激光器的十字线校准工件摆放的位置,使得工件的长和宽与坐标系的X轴和Y 轴平行,并将激光十字光斑对准工件左上角,通过超声C扫描软件查看得知超声探头声 束在XY平面的坐标,根据超声探头和激光器的相对坐标得到激光十字光斑在XY平面的 坐标。
4.根据权利要求2所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 通过测试和计算得出超声探头中心与十字光斑在XY平面上的相对坐标的方法包括: 在已经标定好的三维坐标系中得到探头的中心坐标为(x1,y1),因为是定XY平面 的相对坐标,因此Z轴可以忽略,而十字光斑在该三维坐标系中的实际坐标直接测 出为(x2,y2),即可得出超声探头中心与十字光斑在XY平面上的相对坐标为 (x2-x1,y2-y1)。
5.根据权利要求3所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 对于一个规则工件,通过十字激光的2条线来校准工件摆放的位置。
6.根据权利要求1所述的超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,其特征在于, 所述S2中,所述超声参数是根据超声信号波形、工件厚度、工件声速和相关检测标准 来确定。
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