[发明专利]一种用于测量电极的方法及装置

权利要求书

1.一种用于测量电极的方法，其特征在于，包括：

获取测量指令，分析所述测量指令表征进入电位测量模式或电位差测量模式，并根据分析结果将所述电极的输出端切换至与所述测量指令对应的测量电路；

当所述测量指令表征进入电位测量模式时，对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位差；

当所述测量指令表征进入电位差测量模式时，对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位。

2.根据权利要求1所述的用于测量电极的方法，其特征在于，所述测量指令包括高电平信号和低电平信号；

所述高电平信号表征进入电位差测量模式，所述低电平信号表征进入电位测量模式。

3.根据权利要求1所述的用于测量电极的方法，其特征在于，所述测量指令包括高电平信号和低电平信号；

所述高电平信号表征进入电位测量模式，所述低电平信号表征进入电位差测量模式。

4.根据权利要求1所述的用于测量电极的方法，其特征在于，当所述测量指令表征进入电位差测量模式时，所述对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位差具体包括：

对所述电极的采集信号进行差分处理；

按预设比例对所述差分处理后的采集信号进行放大。

5.根据权利要求1所述的用于测量电极的方法，其特征在于，当所述测量指令表征进入电位测量模式时，所述对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位具体包括：

按预设比例对所述采集信号进行放大。

6.一种用于测量电极的装置，其特征在于，包括：

切换装置，用于获取测量指令，分析所述测量指令表征进入电位测量模式或电位差测量模式，并根据分析结果将所述电极的输出端切换至与所述测量指令对应的测量电路；

电位测量电路，用于当所述测量指令表征进入电位测量模式时，对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位差；

电位差测量电路，用于当所述测量指令表征进入电位差测量模式时，对获取到的所述电极的采集信号进行分析处理以获取所述电极对应的电位。

7.根据权利要求6所述的用于测量电极的装置，其特征在于，所述测量指令包括高电平信号和低电平信号；

所述高电平信号表征进入电位差测量模式，所述低电平信号表征进入电位测量模式。

8.根据权利要求6所述的用于测量电极的装置，其特征在于，所述测量指令包括高电平信号和低电平信号；

所述高电平信号表征进入电位测量模式，所述低电平信号表征进入电位差测量模式。

9.根据权利要求6所述的用于测量电极的装置，其特征在于，所述电位差测量电路具体包括：

与所述电极对应的差分电路，用于对所述电极的采集信号进行差分处理；

与所述差分电路连接的第一信号放大电路，用于按预设比例对所述差分处理后的采集信号进行放大。

10.根据权利要求6所述的用于测量电极的装置，其特征在于，所述电位测量电路具体包括：

与所述电机对应的第二信号放大电路，用于按预设比例对所述采集信号进行放大。