[发明专利]获得污染物颗粒在物理场环境下碰并效率的测试方法及装置有效
申请号: | 201510919360.6 | 申请日: | 2015-12-11 |
公开(公告)号: | CN105403487B | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 高殿荣;陈波;张光通;毋少峰;杨超 | 申请(专利权)人: | 燕山大学 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00;G01N15/02;G01N15/06 |
代理公司: | 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 | 代理人: | 王冬杰;鲍文娟 |
地址: | 066000 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 污染物颗粒 水雾 雾化喷头 物理场 改性 检测 电场环境 粒径 测试方法及装置 粒子动态分析仪 水气混合物 测试装置 产生设备 电子低压 规律曲线 流体测控 效率影响 冲击仪 沉降 空气污染 磁场 和声 雾化 测试 压缩 重复 治理 | ||
1.一种获得污染物颗粒在物理场环境下的碰并效率测试方法,所述物理场包括电场、磁场和声场,其特征在于:
该测试方法所使用的测试装置包括控制箱和与所述控制箱相连的流体测控设备,所述控制箱的入口与空压机和水泵相连,所述空压机中的空气与所述水泵中的水经过控制箱调节运行参数后在雾化喷头中混合雾化输出,
所述流体测控设备包括壳体、喷头支座、至少一个雾化喷头、物理场改变装置、位于壳体下部的电子低压冲击仪的采样器、抽真空组件以及平行设置在壳体的外表面上的粒子动态分析仪,
所述喷头支座位于所述壳体的顶部并与所述控制箱相连,所述喷头支座与所述雾化喷头连接使从控制箱分别流出的压缩空气和具有压力的水在雾化喷头中混合雾化;
所述物理场改变装置位于壳体中的上部并包括用于产生电场的电晕放电荷电器、用于产生磁场的磁场发生器和用于产生声场的声波发生器;
所述流体测控设备的出口连接有水雾回收设备和净化装置,所述水雾回收设备回收碰并后的污水,经过净化装置获得可再次循环使用的水;
一污染物颗粒产生设备通过管路连接所述流体测控设备,用以向流体测控设备中输送污染物颗粒;
所述测试方法包括以下步骤:
S1、利用雾化喷头对经过控制箱压缩后的水气混合物进行雾化获得水雾;
S2、使物理场改变装置形成电场环境,水雾经过所述电场环境获得改变物理特性的改性水雾,并通过粒子动态分析仪检测所述改性水雾的颗粒速度及粒径;
其中所述物理场改变装置包括用于产生电场的电晕放电荷电器、用于产生磁场的磁场发生器和用于产生声场的声波发生器;
所述电场利用电晕放电荷电器使所述水雾具有电场物理特性的改性水雾,所述磁场利用磁场发生器使所述水雾具有磁场物理特性的改性水雾,所述声场利用声波发生器使所述水雾具有声波物理特性的改性水雾;
S3、关闭雾化喷头对流体测控设备抽真空后开启污染物颗粒产生设备,向流体测控设备中释放污染物颗粒,通过电子低压冲击仪检测污染物颗粒的碰并前颗粒浓度,并通过粒子动态分析仪检测出污染物颗粒的碰并前颗粒速度及粒径;
S4、打开雾化喷头,使改性水雾在流体测控设备中同污染物颗粒碰并,待测控设备中碰并物沉降后,通过电子低压冲击仪检测剩余的污染物颗粒的浓度;以及
S5、将步骤S2中的电场环境依次更换成磁场环境和声场环境后重复步骤S2-S4,并将每一种物理场环境下碰并前颗粒浓度与碰并后颗粒浓度进行对比,得出每一种物理场环境下污染物颗粒的碰并效率,并结合检测出的改性水雾的颗粒速度及粒径、污染物颗粒的碰并前颗粒速度及粒径得到碰并效率影响曲线;
步骤S4中剩余的污染物颗粒经过电子低压冲击仪检测后,经过水雾回收设备和净化装置后获得可再次循环使用的水;
所述控制箱调节雾化喷头的运行参数,使雾化喷头所产生的水雾具有的运行参数为:气压0.5-8bar、气流量5-18m3/h、水压0.1-4bar和水流量10-45L/h。
2.根据权利要求1所述的获得污染物颗粒在物理场环境下的碰并效率测试方法,其特征在于:步骤S3中所述污染物颗粒包括粉尘颗粒。
3.根据权利要求1所述的获得污染物颗粒在物理场环境下的碰并效率测试方法,其特征在于:所述流体测控设备的壳体为可被粒子动态分析仪的激光穿透测量的透明腔体,透明腔体为光学玻璃、石英玻璃、有机玻璃或树脂材料。
4.根据权利要求3所述的获得污染物颗粒在物理场环境下的碰并效率测试方法,其特征在于:所述控制箱中设有气流量计、水流量计、气压表和水压表,并配有调节阀和截止阀,通过控制箱的调节实现对雾化喷头的运行参数的调节。
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