[发明专利]提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法有效

专利信息
申请号: 201510921404.9 申请日: 2015-12-13
公开(公告)号: CN106877945B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 张其奎;康玲玲 申请(专利权)人: 航天信息股份有限公司
主分类号: H04B17/15 分类号: H04B17/15
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 郭一斐
地址: 100000 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 提高 基于 nfc forum 规范 模拟 测试 通过 方法
【说明书】:

发明涉及一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法,其包括步骤:(a)对被测物进行定位并利用绝缘粘性材料例如优选为胶带及/或橡皮泥将所述被测物固定在测试台上;以及(b)将测试天线设置在所述被测物的测试面以耦合方式对所述被测物进行射频测试。因此,本发明可以使被测物定位准确、方便测试,进而改善测试结果精确性,提高测试通过率。

技术领域

本发明是涉及基于NFC技术的短距离通信领域产品的测试,特别是关于一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法。

背景技术

NFC(Near Field Communication, 近场无线通信)技术最初是由飞利浦(Philips)与索尼(Sony)在2002年联合开发的无线连接技术,主要包含由飞利浦开发的Mifare接口与Sony的Felica免接触IC卡系统,并于2004年正式宣布成立NFC Forum (NFC论坛),共同推广此一近场通讯技术。目标是将NFC配备到手机、PDA、数码相机、携带式游戏机、电脑以及各种数码消费性电子产品之上,并通过ID数据的认证,使产品彼此间能快速便利的进行数据和服务的交换。

随着NFC Forum在测试方面的不断完善,从开始的数字协议的强制认证,到射频、逻辑链路及简单编码协议方面的强制测试,测试要求不断完善。鉴于此技术工作频段仅为13.56MHz,在普通射频测试方面一般所采用的传导测试在此已经没什么意义。此频段多为采用耦合方式进行测试。但是耦合测试需考虑到周围环境及测试方法对测试结果的影响。因此,如何提高基于NFC Forum规范的模拟(analog)测试通过率,是目前亟待解决的问题之一。

发明内容

为克服现有技术存在的缺陷和不足,本发明实施例提供一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法。

具体地,本发明实施例提供的一种提高基于NFC Forum规范的模拟测试通过率的方法,其包括步骤:(a)对被测物进行定位并利用绝缘粘性材料将所述被测物固定在测试台上;以及(b)将测试天线设置在所述被测物的测试面以耦合方式对所述被测物进行射频测试。

在本发明的一个实施例中,上述步骤(a)依序包括:将所述绝缘粘性材料粘在所述被测物的背面;对所述被测物在所述测试台上进行激光定位;以及在激光定位后,粘在所述被测物的背面的所述绝缘粘性材料粘贴至所述测试台上以实现将所述被测物固定在所述测试台上。

在本发明的一个实施例中,上述步骤(a)包括:利用所述绝缘粘性材料将所述被测物的多个角固定在所述测试台上以实现将所述被测物固定在所述测试台上。

在本发明的一个实施例中,当所述测试天线因被测物表面不平整而不能与所述被测物完全贴紧时,在上述步骤(b)之前进一步包括步骤:利用绝缘材料将所述被测物低的一角垫高以使所述被测物的测试面与所述测试天线处于同一水平面。

在本发明的一个实施例中,当所述被测物的测试面有凸起时,在上述步骤(b)之前进一步包括步骤:将所述测试天线抬高以适应所述被测物的所述凸起。

在本发明的一个实施例中,上述绝缘粘性材料至少包括胶带和橡皮泥其中之一。

在本发明的一个实施例中,上述绝缘材料为泡沫材料。

在本发明的一个实施例中,上述绝缘材料为扣出SIM卡芯片的白卡材料。

在本发明的一个实施例中,上述测试天线的抬高幅度为1-3mm。

在本发明的一个实施例中,上述射频测试为0平面测试。

因此,本发明实施例能够使被测物定位准确、方便测试,从而改善测试结果准确性以及提高测试通过率。

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