[发明专利]低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器在审
申请号: | 201510925824.4 | 申请日: | 2015-12-11 |
公开(公告)号: | CN105322961A | 公开(公告)日: | 2016-02-10 |
发明(设计)人: | 刘力僮;潘步堃;金晶;周健军 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | H03L7/18 | 分类号: | H03L7/18 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功耗 锁定 范围 注入 双模 分频器 | ||
1.一种低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器,其特征在于,包括:
N+1级环形振荡器,N为大于0的偶数;
第一模控开关及第二模控开关,与所述N+1级环形振荡器中的第N+1级电连接,适于控制所述低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器分频比。
2.根据权利要求1所述的低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器,其特征在于:所述N+1级环形振荡器的每一级均包括NMOS管及PMOS管,其中,
每一级中,NMOS管的源极接地,栅极接入注入频率信号Fin;PMOS管的源极接入Vdd,漏极与NMOS管的漏极电连接作为该级的输出;
前一级的输出连接至下一级中的PMOS管的栅极作为下一级的输入,所述N+1级环形振荡器中的第N+1级的输出连接至所述N+1级环形振荡器中的第一级中的PMOS管的栅极作为第一级的输入。
3.根据权利要求1所述的低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器,其特征在于:所述第一模控开关为PMOS开关管,所述第二模控开关为NMOS开关管;
所述PMOS开关管的源极与所述N+1级环形振荡器中的第N+1级中的PMOS管的栅极电连接,所述NMOS开关管的源极接入注入频率信号Fin,所述PMOS开关管的栅极及所述NMOS开关管的栅极均与模控信号MC电连接,所述PMOS开关管的漏极及所述NMOS开关管的漏极均与所述N+1级环形振荡器中的第N+1级中的NMOS管的栅极电连接。
4.根据权利要求3所述的低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器,其特征在于:所述第一模控开关及所述第二模控开关受所述模控信号MC控制;
当所述模控信号MC为低电平时,所述第一模控开关导通,所述第二模控开关关断,所述N+1级环形振荡器中的第N+1级中的NMOS管的栅极及PMOS管的栅极均接入所述N+1级环形振荡器中的第N级的输出;
当所述模控信号MC为高电平时,所述第一模控开关关断,所述第二模控开关导通,所述N+1级环形振荡器中的第N+1级中的NMOS管的栅极接入注入频率信号Fin,PMOS管的栅极接入所述N+1级环形振荡器中的第N级的输出。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器,其特征在于:还包括调谐电容,所述调谐电容与所述N+1级环形振荡器中的第i级的输出电连接,适于调节所述N+1级环形振荡器中的第i级的相位延迟,以提高输入带宽,其中,1≤i≤N。
6.根据权利要求5所述的低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器,其特征在于:还包括第三模控开关,所述第三模控开关为NMOS开关管;所述NMOS开关管的栅极与模控信号MC电连接,漏极与所述调谐电容电连接,源极接地;所述调谐电容的一端与所述NMOS开关管的漏极电连接,另一端与所述N+1级环形振荡器中的第i级的输出电连接。
7.根据权利要求6所述的低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器,其特征在于:所述第三模控开关受所述模控信号MC控制:当所述模控信号MC为高电平时,所述第三模控开关导通,所述调谐电容接入所述N+1级环形振荡器;当所述模控信号MC为低电平时,所述第三模控开关关断,所述调谐电容未接入所述N+1级环形振荡器。
8.根据权利要求5所述的低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器,其特征在于:所述调谐电容的电容值Ca满足:
其中,C0为所述N+1级环形振荡器中的每一级的电容,R0为所述N+1级环形振荡器中的每一级的电阻,ω0为所述低功耗宽锁定范围的注入锁定式双模预分频器的分频比为N+1时的频率。
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