[发明专利]一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置

权利要求书

1.一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置，其特征在于：包括定位底座（3），定位轴 （2）安装在定位底座（3）上，垫圈（5）套装于定位轴（2）外，验盘（1）通过螺母（6）与定位轴（2） 上端固定；验销（4）分别穿过验盘（1）上的导向孔（121）与待验盘状薄壁工件（7）上的待验斜 孔（71）。

2.根据权利要求1所述的一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置，其特征在于：所述 验盘（1）是盘状结构，由盘面（11）和沿盘面（11）外圆周壁形成的裙边（12）形成，裙边（12）与 盘面（11）下底面之间形成的夹角为钝角，盘面（11）中间形成通孔（111），裙边（12）上形成多 个沿圆周均布的导向孔（121）。

3.根据权利要求1所述的一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置，其特征在于：所述 定位轴（2）自下而上由定位柱（21）、轴肩（22）和螺纹柱（23）形成。

4.根据权利要求1所述的一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置，其特征在于：所述 定位底座（3）为中间形成中心通孔（31）的圆柱状结构。

5.根据权利要求1所述的一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置，其特征在于：所述 验销（4）自上而下由均为圆柱型且直径依次递减的手持柱（41）、导向柱（42）和检验柱（43） 形成。

6.根据权利要求1所述的一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置，其特征在于：所述 螺纹柱（23）外径与通孔（111）内径相配合；定位柱（21）的外径与中心通孔（31）的内径相配 合。

7.根据权利要求1所述的一种盘式薄壁件的多斜孔位置度检验装置，其特征在于：所述 导向柱（42）的外径与导向孔（121）的孔径相配合；检验柱（43）与待验盘状薄壁工件（7）上的 待验斜孔（71）孔径相配合。