[发明专利]一种TO筛选系统

权利要求书

1.一种TO筛选系统，其特征在于，包括：上位机、激光器综合性能参数PIV测试盒、控制分配盒和器件单元，所述器件单元包括总线板和N个PCB板，所述总线板包括总线、总线板输入输出接口和N个PCB插槽，各个PCB板各自包括一个PCB输入输出接口和M个TO座，所述N为大于0的整数，所述M为大于1的整数；

所述上位机分别与所述PIV测试盒和所述控制分配盒相连，所述PIV测试盒与所述控制分配盒相连，所述控制分配盒的控制分配盒输入输出接口与所述总线板输入输出接口相连；

第iPCB板的PCB输入输出接口与第iPCB插槽相连，所述i＝{1,2,3，...，N}；

所述上位机，用于获取用户输入的选址指令，并输出所述选址指令至所述控制分配盒，及输出扫描输出指令至所述PIV测试盒，接收相应的PCB板采集的与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数，依据所述状态参数判断与所述选址指令相符的待检测TO是否合格；

所述控制分配盒，用于在接收到所述选址指令后，将所述选址指令编译成地址码，将所述地址码发送至各个PCB板，并将所述PIV测试盒在接收到所述扫描输出指令后，输出的驱动信号转发至与所述选址指令相符的待检测TO所属PCB板，转发相应的PCB板采集的与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数至所述PIV测试盒；

所述PIV测试盒，用于在接收到所述扫描输出指令后，输出驱动信号，并转发与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数至所述上位机；

所述TO座，用于安装待检测TO；

所述PCB板，用于对所述控制分配盒发送的地址码进行解析，得到页面码和页内选址码，在所述页面码与所述PCB板的编号相符时，驱动所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO工作，并输出与所述驱动信号相符的检测电流至所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO，及采集所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO在所述检测电流下的状态参数，并将所述状态参数返回至所述控制分配盒；

其中，所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO为与所述选址指令相符的待检测TO。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述PIV测试盒包括：输出单元，用于在接收到所述扫描输出指令后，按照预设步进间隔逐步输出相应的驱动信号。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述状态参数包括：背光电流和正向电压。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述总线板输入输出接口具体为16Pin接口；

所述控制分配盒输入输出接口具体为：16Pin接口；

在所述总线板输入输出接口具体为16Pin接口，且所述控制分配盒输入输出接口具体为16Pin接口时，所述N为大于0且不大于8的整数，所述M为大于1且不大于64的整数。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述第iPCB板的PCB输入输出接口具体为：欧式48Pin插座；

所述第iPCB插槽具体为：欧式48Pin插座；

其中，所述欧式48Pin插座的48个脚位平均分成16组，每组对应所述16Pin接口中的一个脚位。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的系统，其特征在于，还包括：

TO夹具，用于与所述器件单元适配连接；

所述TO夹具包括：测试架底板、4个测试架立柱、2个手柄横杆、第一PCB固定板、第二PCB固定板、第一PCB卡槽、第二PCB卡槽、横梁、第一锁件、第二锁件、第三锁件、锁板和PCB托块；

所述测试架底板分别与4个所述测试架立柱匹配连接，2个手柄横杆分别与所述测试架立柱匹配连接，所述第一PCB固定板与所述第二PCB固定板匹配连接，所述第一PCB卡槽和所述第二PCB卡槽均与所述测试架立柱匹配连接，所述横梁与所述第一锁件匹配连接、所述锁板与所述第一锁件匹配连接，所述PCB托块与所述锁板匹配连接，所述第二锁件和所述第三锁件均与所述锁板匹配连接。