[发明专利]一种改善检验碎片及漏检的装置及检验方法在审
申请号: | 201510936239.4 | 申请日: | 2015-12-16 |
公开(公告)号: | CN106887394A | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
发明(设计)人: | 吴磊;陈治峰;李征 | 申请(专利权)人: | 浙江鸿禧能源股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 314205 浙江省嘉*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改善 检验 碎片 漏检 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及晶硅太阳能电池片制造领域,具体地涉及一种改善检验碎片及漏检的装置及检验方法。
背景技术
在晶硅太阳能电池片的制备过程中,先后经过清洗制绒、扩散、刻蚀、PECVD、丝网印刷、及分类检测工序后,制备出成品电池片。在电池片制备过程中,需要对其进行检验。目前电池片检验使用的方法是采用6格承载盒,先整百检验完背场再检验正面进行颜色分选,分选过程电池片从上往下垂直放入承载盒中。该检验方法存在以下问题:承载盒价格较高,而每个检验员需使用两个承载盒;检验过程中电池片放入承载盒时易发生碰撞造成缺角、裂纹;颜色分选过程中,不方便比对颜色样片,易造成颜色跳色。
发明内容
本发明的目的是提供一种改善检验碎片及漏检的装置及检验方法,达到降低检验工具的成本、检验过程中产生的碎片及漏检的比例的目的。
为了解决上述技术问题,本发明采用的技术解决方案是一种改善碎片及漏检的装置及检验方法,所述的装置是只有两个相邻面有挡板的正方形档位盒,档位盒的内部侧面粘贴有硅胶垫,底部粘贴有海绵垫;所述的检验方法中,首先将档位盒呈一定倾斜角度放置;然后根据分类检测的档位数设置档位盒的数量,并将档位盒均置两排,相邻两个档位盒间有一定的间距;最后将颜色样片放置于两排档位盒的中间位置。
本发明的有益效果是减少了电池片在检验过程中因碰撞而产生碎片的比例,颜色分选过程中可随时与颜色样片比对,可避免颜色跳色,避免了因检验员操作不规范而造成背场漏检,可有效控制检验员检验速度,降低因检验速度过快而造成漏检。
附图说明
图1 本发明提供的一种改善检验碎片及漏检的装置的结构示意图
图中:1表示硅胶垫;2表示海绵垫;3表示档位盒。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的技术方案作进一步详细说明。
在本具体实施方式中,采用边长为163mm*163mm的只有两个相邻面有挡板的正方形档位盒,其中挡板厚为3mm,高为40mm。挡板内侧粘贴3mm厚的硅胶垫,防止电池片与挡板内侧碰撞。档位盒底部粘贴15mm厚的海绵垫,使档位盒呈一定倾斜方便电池片放置。检验时,共使用8个档位盒,每4个档位盒一排,档位盒之间间距约为60mm,两排档位盒中间平铺放置颜色样片;检验电池片时,左手拿电池片使背场朝上,检验完一片电池片背场后右手将电池片翻转再进行正面检验及分色。通过使用本发明提供的一种改善检验碎片及漏检的装置及检验方法,减少了电池片在检验过程中因碰撞而产生碎片的比例,颜色分选过程中可随时与颜色样片比对,可避免颜色跳色,避免了因检验员操作不规范而造成背场漏检,可有效控制检验员检验速度,降低因检验速度过快而造成漏检。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造