[发明专利]一种数字集成芯片测试仪

说明书

技术领域

本发明涉及测试仪，尤其涉及一种数字集成芯片测试仪。

背景技术

数字集成电路在高校的实验教学中得到广泛地应用。为了提高学生的实践创新能力和实践动手能力，很多高校每个学期都要开设数字电路实验课程。在这些实验教学活动中，需要使用大量的数字集成芯片。然而，在实验教学过程中，由于学生对实验数字集成芯片使用不当，而造成芯片损坏数量越来越大。目前市场上的专用的数字集成电路测试仪，不仅体积庞大，而且价格昂贵，不可在实验室中普及与应用。因此，设计快速高效和成本低廉的数字集成芯片测试仪，具有重要的实现意义。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种数字集成芯片测试仪。

本发明提供了一种数字集成芯片测试仪，包括测试模块、控制器单元、处理器单元和总线，其中，所述测试模块、控制器单元、处理器单元分别与所述总线连接，所述测试模块包括数字集成电路测试核心模块和集成电路测试IC座，所述数字集成电路测试核心模块与所述集成电路测试IC座连接。

作为本发明的进一步改进，所述集成电路测试IC座包括三极管Q1、二极管D1、继电器T1和IC插座，所述三极管Q1的发射极接地，所述三极管Q1的集电极分别与所述二极管D1、继电器T1连接，所述二极管D1、IC插座分别与所述继电器T1连接。

作为本发明的进一步改进，所述IC插座的第16脚接电源，第8脚接地。

作为本发明的进一步改进，所述IC插座的第7脚与继电器T1的第1脚相连，并通过继电器T1的常闭端口2接地，继电器T1的常开端3与所述数字集成电路测试核心模块的输入引脚相连。

作为本发明的进一步改进，所述控制器单元包括JTAG控制器、UART控制器、EPCS控制器、LCD控制器、SDRAM控制器、PIO控制器，所述JTAG控制器、UART控制器、EPCS控制器、LCD控制器、SDRAM控制器、PIO控制器分别与所述总线连接。

作为本发明的进一步改进，所述EPCS控制器连接有EPCS4存储器，所述SDRAM控制器连接有SDRAM存储器。

作为本发明的进一步改进，所述UART控制器连接有USB转换芯片，所述USB转换芯片连接有PC机，所述JTAG控制器与所述PC机连接。

作为本发明的进一步改进，所述LCD控制器连接有LCD显示器，所述PIO控制器连接有键盘。

作为本发明的进一步改进，所述总线为Avalon-MM总线。

作为本发明的进一步改进，所述处理器单元为NiosII处理器。

本发明的有益效果是：通过上述方案，具有快速高效和成本低廉的优点。

附图说明

图1是本发明一种数字集成芯片测试仪的硬件框图。

图2是本发明一种数字集成芯片测试仪的集成电路测试IC座的电路图。

具体实施方式

下面结合附图说明及具体实施方式对本发明进一步说明。

图1至图2中的附图标号为：数字集成电路测试核心模块1；集成电路测试IC座2；IC插座21；EPCS控制器3；EPCS4存储器4；NiosII处理器5；PIO控制器6；键盘7；SDRAM控制器8；SDRAM存储器9；LCD控制器10；LCD显示器11；JTAG控制器12；UART控制器13；USB转换芯片14；PC机15。

如图1所示，一种数字集成芯片测试仪，包括测试模块、控制器单元、处理器单元和总线，其中，所述测试模块、控制器单元、处理器单元分别与所述总线连接，所述测试模块包括数字集成电路测试核心模块1和集成电路测试IC座2，所述数字集成电路测试核心模块1与所述集成电路测试IC座2连接。

如图2所示，所述集成电路测试IC座2包括三极管Q1、二极管D1、继电器T1和IC插座21，所述三极管Q1的发射极接地，所述三极管Q1的集电极分别与所述二极管D1、继电器T1连接，所述二极管D1、IC插座21分别与所述继电器T1连接。

如图2所示，所述IC插座21的第16脚接电源，第8脚接地。

如图2所示，所述IC插座21的第7脚与继电器T1的第1脚相连，并通过继电器T1的常闭端口2接地，继电器T1的常开端3与所述数字集成电路测试核心模块1的输入引脚相连。