[发明专利]一种锗硅光电探测器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201510938680.6 申请日: 2015-12-16
公开(公告)号: CN105470318A 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 刘健;胡双元 申请(专利权)人: 苏州矩阵光电有限公司
主分类号: H01L31/0224 分类号: H01L31/0224;H01L31/105;H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215614 江苏省苏州市张家*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电 探测器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种锗硅光电探测器,其特征在于,所述器件结构包括在P型掺杂的Si衬底(1)上依次外延非掺杂的Si缓冲层(2),P型重掺杂Ge层(3),i型Ge层作为吸收层(4),N型重掺杂Ge层(5);所述N型重掺杂Ge层(5)上设置Si帽层(6);刻蚀形成台面所述的P型重掺杂Ge层(3)上设置钝化层(7);所述钝化层上开孔,在通孔内壁设置金属电极作为第一电极(8);所述Si帽层(6)上设置金属银层(9),石墨烯层(10),作为外电路连接的第二金属电极层(11),增透膜层(12)。

2.如权利要求1所述的一种锗硅光电探测器,其特征在于,所使用的金属网格的材料为银,金属网格的大小为200um*200um,线宽为5um。

3.权利要求1所述的一种锗硅光电探测器,其特征在于,所选用的石墨烯是单层或者多层石墨烯。

4.如权利要求1所述一种锗硅光电探测器,其特征在于,所述的金属网格层(9)和石墨烯层(10)组合成器件复合透明电极,上面设置的第二电极层(11)为外电路连接所用。

5.一种权利要求1-4任一项所述的锗硅光电探测器的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、选用一块弱P型掺杂的Si衬底(1),通过分子束外延的方法,依次在表面生长出非掺杂的Si缓冲层(2),P型重掺杂Ge层(3),i型Ge层作为吸收层(4),N型重掺杂Ge层(5),Si帽层(6);

S2、刻蚀出台面,蒸镀一层钝化层(7);

S3、刻蚀钝化层形成开孔电极区域,镀金属作为第一电极(8);

S4、在外延片的表面蒸镀一层金属银层(9),然后通过光刻,湿法腐蚀出金属网格;

S5、选用一块干净的金属铂片,放入化学气相沉积反应室,通入甲烷和氢气,生长出石墨烯(10);

S6、通过鼓泡转移的方法,将石墨烯转移至具有金属网格的外延片,金属铂片可以再次回收利用;

S7、蒸镀一层金属层,作为连接外电路连接第二电极(11);

S8、蒸镀一层增透膜层(12)。

6.根据权利要求5所述的锗硅光电探测器的制备方法,其特征在于:步骤S4中,所使用的金属网格的材料为银,金属网格的大小为200um*200um,线宽为5um。

7.根据权利要求5所述的锗硅光电探测器的制备方法,其特征在于:步骤S5中,所选用的石墨烯是单层或者多层石墨烯。

8.根据权利要求5所述的锗硅光电探测器的制备方法,其特征在于:步骤S6中,所述的金属网格层(9)和石墨烯层(10)组合成复合透明电极,上面设置的第二电极层(11)为外电路连接所用。

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