[发明专利]一种光伏组件或阵列I-V特性测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 201510939729.X 申请日: 2015-12-16
公开(公告)号: CN105391401A 公开(公告)日: 2016-03-09
发明(设计)人: 夏登福;张莹;全鹏;钱加翔 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: H02S50/10 分类号: H02S50/10
代理公司: 浙江永鼎律师事务所 33233 代理人: 郭小丽
地址: 213031 江苏省常*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 组件 阵列 特性 测量 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种光伏组件或阵列性能测试装置及测试方法,尤其涉及一种光伏组件或阵列I-V特性测量装置及方法,属于太阳能光伏组件技术领域。

背景技术

随着世界经济的快速增长,对能源的需求不断增加。太阳能作为一种低碳可再生的清洁能源,正在世界范围内蓬勃发展。光伏系统通过安装光伏组件接收太阳光能源将太阳能转化为直流电,再通过光伏逆变器将直流电转换为交流电。光伏组件的发电量直接影响到光伏电站拥有者的收益,行业内专业的公司机构都在进行组件高发电量的提升研究。

太阳能电池的I-V特性是评价太阳能电池的性能的重要指标,对太阳电池的I-V特性进行监测具有重要的意义。目前,对光伏组件的性能大多通过室内太阳光模拟器对光伏组件进行测试,通过测试光伏组件的电流-电压(I-V)特性曲线,来评估组件的发电性能。但是,在室内稳态下测试太阳电池的I-V特性不能反映太阳电池在真实工作条件的性能。现有技术中,户外测试光伏组件及阵列I-V性能曲线的方法有两种,一种是采用便携的I-V测试仪进行测量,通常一次测得一条曲线,不能进行连续扫描测试;另一种是能够连续扫描测试,但组件并非工作在真实的工作负载下,在不扫描I-V曲线的大部分时间里组件属于开路状态,不能反映太阳电池在户外真实工作条件下的性能。

发明内容

本发明针对现有技术中,光伏组件I-V特性测试不能反映组件的真实工作状态、测试方法复杂、测量结果不够精确的技术问题,提供

一种光伏组件或阵列I-V特性测量装置及方法,提高光伏组件I-V特性测量的精确性。

为此,本发明采用如下技术方案:

一种光伏组件或阵列I-V特性测量装置,包括待测单元、电流-电压采样器和工控机,其特征在于:所述待测单元包括具有正极输出端和负极输出端的待测组件、联动开关和第一负载,测量装置还包括第二负载以及控制联动开关的开关控制器,第二负载为程控负载,第一负载、第二负载以及电流-电压采样器分别并联在待测组件的正极和负极输出端上,所述联动开关包括开关Km和开关Km+1,开关Km控制第一负载,开关Km+1控制电流-电压采样器和第二负载,工控机与电流-电压采样器、程控负载、开关控制器连接。

进一步地,所述待测单元为若干个,联动开关对应地包括与待测单元数量相对应的若干组,各组联动开关中的开关Km控制第一负载,开关Km+1控制电流-电压采样器和第二负载,还包括一通道切换器控制各待测组件与电流-电压采样器和第二负载的连接或断开。

进一步地,所述待测组件为单块光伏组件或多块光伏组件串联和/或并联形成的光伏阵列。

进一步地,所述第一负载为电子负载和/或电网负载。

本发明的另一方面,提供一种光伏组件或阵列I-V特性测量方法,应用于上述光伏组件或阵列I-V特性测量装置中,包括如下步骤:

S0:测试开始前,调控工控机,设定每次I-V扫描测试的扫描时间和两次扫描的间隔时间;

S1:在非I-V扫描测试状态时,联动开关中的开关Km闭合,开关Km+1断开,待测组件在最佳负载值下处于工作状态;

S2:根据设定的I-V扫描测试间隔时间,工控机发出指定,开关控制器控制联动开关中的开关Km断开,开关Km+1闭合,在设定的扫描时间内,第二负载在工控机的指令下变化,电流-电压采样器记录待测组件在第二负载变化过程中输出的I、V值并记入工控机中,完成一次I-V扫描测试;

S3:单次扫描完成后,工控机发出指令,开关控制器控制联动开关中的开关Km闭合,开关Km+1断开,待测组件重新回到工作状态;

S4:根据设定的I-V扫描测试间隔时间,启动下一次I-V扫描测试,重复上述步骤S2和S3,对待测组件I-V特性进行循环测试。

进一步地,所述待测单元为若干个,联动开关对应地包括与待测组件数量相对应的若干组,各组联动开关中的开关Km控制第一负载,开关Km+1控制电流-电压采样器和第二负载,还包括一通道切换器控制各待测组件与电流-电压采样器和第二负载的连接或断开;在非I-V扫描测试状态时,各待测组件的开关Km均处于闭合状态,各待测组件均处于工作状态;测试开始时,开关控制器依次控制各组联动开关中的开关Km断开,开关Km+1闭合,由通道切换器控制对应的待测组件与电流-电压采样器和第二负载连接,进入步骤S2和S3的测试操作,对各待测组件逐一进行测试,直至每一个待测组件完成一次I-V扫描测试;根据设定的I-V扫描测试间隔时间,启动下一轮I-V扫描测试,对各待测组件I-V特性进行循环测试。

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