[发明专利]光纤网络综合测试系统及综合测试方法有效

专利信息
申请号: 201510944757.0 申请日: 2015-12-16
公开(公告)号: CN105591693A 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 李楚元 申请(专利权)人: 大豪信息技术(威海)有限公司
主分类号: H04B10/079 分类号: H04B10/079;H04B10/073
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 264200 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 光纤 网络 综合测试 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及光纤通信领域,特别涉及的是光纤网络综合测试系统及综合测 试方法。

背景技术

光纤网络测试是对光纤光缆布线网络的性能、质量的检测;广泛应用于光 纤通讯网络、综合布线系统、光器件生产与研究中;一般而言,对于光线网络 而言,性能要求非常高,测试项目非常多。

目前的光纤网络测试仪器,测试项目分散,适用的测试场景也十分单一, 在实际运用时,一般都是测试员通过各项仪器进行测试,对测试结果进行记录, 最终再进行统计分析,测试项目的不集中会造成各种项目测试的不便,测试结 果数据的分析和查阅也非常繁琐,增加了操作者的学习负担与工作时间。

此外,现有的光纤测试方法也有待改进的地方。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种光纤网络综合测试系统,能够实现 综合测试,能够适应不同的测试场景,生成统一的测试报告远程传输,实现远 程集中监控。

为解决上述问题,本发明提出一种光纤网络综合测试系统,包括:

光源发生器,用于连接到待测光纤的第一端接口,并发出测试光源,所述 测试光源的波长可选;

光功率计,用于连接到待测光纤的第二端接口,接收所述测试光源,进行 相对或绝对功率测试,以获得所述待测光纤的光功率测试结果,所述测试光源 用于光功率计测试时的波长为1310nm或1550nm;

光损耗计算装置,根据所述光功率计测试所述测试光源的发射光和接收 光,计算出光功率差值作为待测光纤的光损耗测试结果;

测试控制装置,用于控制系统工作,并接收各测试结果从而形成测试报告; 以及

集中控制计算机,用于和所述测试控制装置有线或无线通信,接收所述测 试控制装置上传的测试报告。

根据本发明的一个实施例,还包括:

故障定位仪,用于根据所述测试光源通过所述待测光纤而检测出光源泄漏 点,从而定位待测光纤的故障事件发生点,以获得故障测试结果,所述测试光 源用于故障定位仪测试时的波长在可见光范围内。

根据本发明的一个实施例,所述用于故障定位仪测试的测试光源为红光 源,通过电流驱动所述光源发生器发光。

根据本发明的一个实施例,还包括:

光纤普查仪,用于连接到待测光纤的第二端接口,在所述测试光源通过待 测光纤且所述待测光纤经受敲击后,接收并将敲击信息转换为音频和/或视频 信号,将测试光源作为波形显示,从而找出目标光纤,以获得目标光纤测试结 果,所述测试光源用于光纤普查仪测试时的波长为1550nm。

根据本发明的一个实施例,在所述光纤普查仪的音频输出端口连接有音频 输出装置。

根据本发明的一个实施例,用于敲击所述待测光纤的物件为硬金属便携工 具。

根据本发明的一个实施例,还包括:

光时域反射仪,用于根据所述测试光源通过所述待测光纤而检测整个待测 光纤的轮廓,识别并测量所述待测光纤的跨度、接续点和连接头,通过一描述 所述待测光纤的轨迹线给出待测光纤的衰减值位置和大小,以获得衰减值位置 和大小的测试结果,所述测试光源用于光时域反射仪测试时的波长在可见光范 围内。

本发明还提供一种使用前述任意一种光纤网络综合测试系统的综合测试 方法,包括:

步骤S1:将光源发生器和光功率计分别连接到待测光纤的第一端接口和 第二端接口,启动光功率计,选择测试光源的波长为1310nm或1550nm;

步骤S2:光功率计接收所述测试光源,进行相对或绝对功率测试,以获 得所述待测光纤的光功率测试结果,发送光功率测试结果给测试控制装置;

步骤S3:光损耗计算装置根据所述光功率计测试所述测试光源的发射光 和接收光,计算出光功率差值作为待测光纤的光损耗测试结果,发送光损耗测 试结果给测试控制装置;

步骤S4:测试控制装置接收各测试结果从而形成测试报告,并上传测试 报告给集中控制计算机。

根据本发明的一个实施例,在步骤S3和步骤S4之间还包括:

步骤S5:故障定位仪根据所述测试光源通过所述待测光纤而检测出光源 泄漏点,从而定位待测光纤的故障事件发生点,以获得故障测试结果,发送故 障测试结果给测试控制装置,所述测试光源用于故障定位仪测试时的波长在可 见光范围内。

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