[发明专利]一种FCT测试方法及测试系统

说明书

本发明提供了一种FCT测试系统，包括工控机、受控于工控机的测试仪及连接装置，该工控机及该测试仪通过该连接装置接入同一局域网；该测试仪包括多个分别用于对不同待测产品进行相同测试的测试治具；所述工控机用于在根据测试治具的功能测试结果确认待测产品不合格时，判断该不合格的待测产品是否符合重新测试条件，并在该不合格的待测产品符合重新测试条件时，使处于空闲状态且未对该不合格的待测产品进行测试的测试治具对该不合格的待测产品从不合格的测试功能项进行测试。本发明还提供对应的FCT测试方法。本发明有效地降低测试的误测率，提高测试的一遍通过率，且无需从第一个功能测试项进行测试，节约测试时间。

技术领域

本发明涉及自动化测试技术领域，更具体地说，涉及一种FCT测试方法及测试系统。

背景技术

自动化测试有效地将自动化设备应用于电子产品测试的方面，打破了传统手动测试电子产品的模式，提高了测试效率，且节约成本，进而有效地提高了企业竞争力。然而，目前自动化测试经常受限于测试的一遍通过率问题，由于测试过程中全自动化且缺少人为干预，测试的一遍通过率最高只能达到97%左右，而实际电子产品的合格率已达到99.5%，则说明自动化测试会产生接近3%的误测率，此时，假如一条日产5万块某电子产品的生产线，若生产过程中需要对该电子产品经过三种不同的功能测试（FCT，Functional CircuitTest），则累计误测率高达9%，相当于4500块电子产品需要回流或者人工测试。无论是回流还是人工测试，均增大了生产过程的成本，而且，在实际生产中，一块成品的PCB电路板需要经过多种不同的功能测试，若采用现有的自动化测试方法，则误删率将会更高，进而所产生的生产成本将会更高。

因此，在自动化测试中，如何提高测试的一遍通过率而降低误测率已成为亟待要解决的技术问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有的自动化测试中的一遍通过率低而引起的误测率高的问题，提供一种FCT测试方法及测试系统。

本发明解决上述问题的所采用的技术方案是提供了一种FCT测试系统，包括工控机、受控于工控机的测试仪及连接装置，该工控机及该测试仪通过该连接装置接入同一局域网；该测试仪包括多个分别用于对不同待测产品进行相同测试的测试治具；其中：

每一所述测试治具用于根据工控机的测试指令对多个待测产品进行相同测试，并将功能测试结果经由连接装置发送到工控机；

所述工控机用于在根据功能测试结果确认待测产品不合格时，判断该不合格的待测产品是否符合重新测试条件，并在该不合格的待测产品符合重新测试条件时，使处于空闲状态且未对该不合格的待测产品进行测试的测试治具对该不合格的待测产品从不合格的测试功能项进行测试；

所述工控机包括主板、集成在主板上的处理器，该处理器用于根据功能测试结果确认待测产品不合格时，记录该不合格的待测产品的不合格的功能测试项，并在该不合格的待测产品的测试记录中不合格的功能测试项被测不合格的总次数小于预设次数时，控制测试仪的多个测试治具对该不合格的待测产品进行重新测试以得到其功能测试结果。

本发明还提供了一种FCT测试方法，该方法包括以下步骤：

同一测试仪的多个测试治具分别根据工控机的测试指令对多个待测产品进行相同测试，并将功能测试结果经由连接装置发送到工控机，该连接装置将该工控机及该测试仪接入同一局域网；

工控机在根据功能测试结果确认待测产品不合格时，判断该不合格的待测产品是否符合重新测试条件，并在该不合格的待测产品符合重新测试条件时，使处于空闲状态且未对该不合格的待测产品进行测试的测试治具对该不合格的待测产品从不合格的测试功能项进行测试。

在上述的FCT测试方法中，在该不合格的待测产品符合重新测试条件时，使处于空闲状态且未对该不合格的待测产品进行测试的测试治具对该不合格的待测产品从不合格的测试功能项进行测试的步骤包括：