[发明专利]一种确定眼前房容积的方法及装置有效
申请号: | 201510947342.9 | 申请日: | 2015-12-16 |
公开(公告)号: | CN105640486B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 姜春晖;孙兴怀;卢奕;徐格致;俞笳;余建;宗媛;邓国华;赵洪兵 | 申请(专利权)人: | 上海杰视医疗科技有限公司 |
主分类号: | A61B3/10 | 分类号: | A61B3/10;A61B3/117 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 201201 上海市浦东新区张*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 确定 眼前 容积 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及医疗检测技术领域,特别是涉及一种确定眼前房容积的方法及装置。
背景技术
青光眼是全球导致视力丧失的主要眼病之一,如不采取及时并有效地治疗,视野或视力可全部丧失,从而最终导致失明。而这种青光眼所导致的失明,目前的医学治疗手段也无法逆转,因此青光眼在西方国家已是首要或次要的不可逆致盲原因,在我国也排在前三位。通过早期的发现以及干预,可以使大部分患者的功能得以维持。因此,青光眼的早期发现尤为重要。
由于人群差异,在西方开角型青光眼占绝大多数,而在我国闭角型青光眼占相当一部分。对于闭角型青光眼,前房角以及前房容积的测量是早期筛查的一种重要的方法。目前临床以前房角的筛查为主,但存在主观性较强、重复性差、不易统一对比等缺点。前房容积的测量也由于设备和方法的限制而未推广。
目前OCT的前房容积测量主要有2种:利用visante单张OCT水平图像测量前房容积以及目前最新的tomey OCT利用多张图像测量前房容积。由于眼球是个不规则的球体,各个方位的直径并不一样,所以单张水平图像并不能准确的测出前房容积的大小。而Tomey OCT采用8张图像计算前房容积,虽然比较准确,但由于价格昂贵,普及率不高,并且由于同时扫描8个方位,很容易造成其中1、2个方位由于眼睑遮挡而导致测量错误。
鉴于此,提供一种提高诊疗效率的同时能够充分节省成本的确定眼前房容积的方法及装置是非常有必要的。
发明内容
本发明的目的是提供一种确定眼前房容积的方法及装置,以助于早期发现和诊断青光眼等眼科疾病,能够在提高诊疗效率的同时充分节省成本。
为解决上述技术问题,本发明提供一种确定眼前房容积的方法,包括:
获取前节OCT的原始扫描图像;
从所述原始扫描图像中选取预设第一数量的前节OCT图像,所述前节OCT图像扫描位置等分前房,所述预设第一数量为偶数;
对所述前节OCT图像进行显示,描绘出前房图像;
通过预设第二数量的纵线对所述前房图像进行分割,计算划分的各部分中各纵线与前房相交部分的长度;
通过所述各纵线与前房相交部分的长度以及所述纵线的数量,计算得到所述前房图像中眼前房容积。
可选地,所述从所述原始扫描图像中选取预设第一数量的前节OCT图像包括:
去除扫描不完整的图像,从扫描完整的所述原始扫描图像中选取预设第一数量的前节OCT图像。
可选地,所述通过所述各纵线与前房相交部分的长度以及所述纵线的数量,计算得到所述前房图像中眼前房容积包括:
通过所述各纵线与前房相交部分的长度以及所述纵线的数量,根据:
计算得到所述前房图像中的眼前房容积;其中的参数解释如下:用两个相互垂直的平面将眼球四等分得到两个截面,将两个截面沿着横轴方向200等分,将等分点处从虹膜晶体前表面描迹线到角膜内皮描迹线的距离,称为描迹线的高,其中一个平面截取的描迹线的高记为等分点之间的间距记为c;另一个与之垂直的平面截取的描迹线的高记为等分点之间的间距记为d。
本发明还提供了一种确定眼前房容积的装置,包括:
获取模块,用于获取前节OCT的原始扫描图像;
选取模块,用于从所述原始扫描图像中选取预设第一数量的前节OCT图像,所述前节OCT图像扫描位置等分前房,所述预设第一数量为偶数;
显示模块,用于对所述前节OCT图像进行显示,描绘出前房图像;
计算模块,用于通过预设第二数量的纵线对所述前房图像进行分割,计算划分的各部分中各纵线与前房相交部分的长度;
确定模块,用于通过所述各纵线与前房相交部分的长度以及所述纵线的数量,计算得到所述前房图像中眼前房容积。
可选地,所述选取模块具体用于:
去除扫描不完整的图像,从扫描完整的所述原始扫描图像中选取预设第一数量的前节OCT图像。
可选地,所述确定模块具体用于:
通过所述各纵线与前房相交部分的长度以及所述纵线的数量,根据
计算得到所述前房图像中的眼前房容积,其中的参数解释如下:用两个相互垂直的平面将眼球四等分得到两个截面,将两个截面沿着横轴方向200等分,将等分点处从虹膜晶体前表面描迹线到角膜内皮描迹线的距离,称为描迹线的高,其中一个平面截取的描迹线的高记为等分点之间的间距记为c;另一个与之垂直的平面截取的描迹线的高记为等分点之间的间距记为d。
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