[发明专利]基于稀疏子空间聚类和低秩表示的显著性目标检测方法有效

专利信息
申请号: 201510951934.8 申请日: 2015-12-17
公开(公告)号: CN105574534B 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 张强;梁宁;朱四洋;王龙 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46;G06T7/11
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;韦全生
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 稀疏 空间 表示 显著 目标 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于稀疏子空间聚类和低秩表示的显著性目标检测方法,包括如下步骤:

(1)将输入图像I分割成N个超像素{pi|i=1,2,...,N};

(2)对所有超像素进行聚类,得到输入图像I的J个聚类{Cj|j=1,2,...,J},其中每一个聚类Cj包含了mj个超像素,即Cj={pj,k|k=1,2,...,mj};

(3)构建聚类特征矩阵:

针对每一个聚类Cj={pj,k|k=1,2,...,mj}当中包含的第k个超像素pj,k,提取该超像素中每一个像素点的颜色、边缘和纹理特征构建该像素点的特征向量,其维数为M=53,并利用超像素pj,k中所有像素特征向量的均值向量xj,k作为该超像素的特征,构建聚类Cj的特征矩阵为

(4)计算所有超像素的颜色对比度,并根据超像素颜色对比度由大到小对超像素特征进行排序,得到低秩表示算法的字典D;

(5)根据上述特征矩阵Xj和字典D构建联合低秩表示模型:

s.t.Xj=DZj+Ej

其中,Zj为低秩表示系数,E为重构误差矩阵,λ是权衡低秩成分和稀疏成分之间的一个常量因子,||·||*为矩阵核范数,表示矩阵的所有奇异值之和,||E||2,1为重构误差矩阵E=[E1,E2,...,Ej]的l2,1范数,且E(u,v)表示E的第u行第v列元素;

求解上述联合低秩表示模型,对聚类Cj的特征矩阵Xj进行低秩稀疏分解,得到低秩表示系数的最优解集合

(6)利用聚类Cj对应的低秩表示系数计算该聚类的显著性因子L(Cj):

其中,是低秩表示系数矩阵的前m行,是低秩表示系数矩阵的后m行,||·||1,1表示矩阵的l1,1范数,即|A(u,v)|表示A的第u行第v列元素的绝对值;

(7)将每一个聚类Cj的显著性因子L(Cj)按照其空间位置映射到输入图像I中,得到输入图像I的显著图。

2.根据权利要求1所述的基于稀疏子空间聚类和低秩表示的显著性目标检测方法,其特征在于:步骤(4)中得到低秩表示算法的字典D,包括如下步骤:

(4a)计算超像素的颜色对比度:

其中,表示超像素pi中所有像素的CIElab颜色特征的均值,表示超像素pi中任一像素点Im的颜色特征,|pi|是超像素pi中像素点的总数,表示超像素pj中所有像素的颜色特征的均值,表示超像素pj中任一像素点In的颜色特征,|pj|是超像素pj中像素点的总数,||ci-cj||2为ci和cj欧氏距离的平方;表示超像素pi中所有像素位置坐标的均值,表示超像素pi中任一像素点Im的位置坐标,表示超像素pj中所有像素位置坐标的均值,表示超像素pj中任一像素点In的位置坐标,||li-lj||2为li和lj欧氏距离的平方,Zi是使得的归一化参数,σp是局部-全局权衡因子;

(4b)根据超像素颜色对比度由大到小对超像素特征进行排序,得到低秩表示算法的字典其中,是超像素的特征向量,1≤si≤N,且满足

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510951934.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top