[发明专利]基于稀疏子空间聚类和低秩表示的显著性目标检测方法有效
申请号: | 201510951934.8 | 申请日: | 2015-12-17 |
公开(公告)号: | CN105574534B | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | 张强;梁宁;朱四洋;王龙 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46;G06T7/11 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;韦全生 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 稀疏 空间 表示 显著 目标 检测 方法 | ||
1.一种基于稀疏子空间聚类和低秩表示的显著性目标检测方法,包括如下步骤:
(1)将输入图像I分割成N个超像素{pi|i=1,2,...,N};
(2)对所有超像素进行聚类,得到输入图像I的J个聚类{Cj|j=1,2,...,J},其中每一个聚类Cj包含了mj个超像素,即Cj={pj,k|k=1,2,...,mj};
(3)构建聚类特征矩阵:
针对每一个聚类Cj={pj,k|k=1,2,...,mj}当中包含的第k个超像素pj,k,提取该超像素中每一个像素点的颜色、边缘和纹理特征构建该像素点的特征向量,其维数为M=53,并利用超像素pj,k中所有像素特征向量的均值向量xj,k作为该超像素的特征,构建聚类Cj的特征矩阵为
(4)计算所有超像素的颜色对比度,并根据超像素颜色对比度由大到小对超像素特征进行排序,得到低秩表示算法的字典D;
(5)根据上述特征矩阵Xj和字典D构建联合低秩表示模型:
s.t.Xj=DZj+Ej
其中,Zj为低秩表示系数,E为重构误差矩阵,λ是权衡低秩成分和稀疏成分之间的一个常量因子,||·||*为矩阵核范数,表示矩阵的所有奇异值之和,||E||2,1为重构误差矩阵E=[E1,E2,...,Ej]的l2,1范数,且E(u,v)表示E的第u行第v列元素;
求解上述联合低秩表示模型,对聚类Cj的特征矩阵Xj进行低秩稀疏分解,得到低秩表示系数的最优解集合
(6)利用聚类Cj对应的低秩表示系数计算该聚类的显著性因子L(Cj):
其中,是低秩表示系数矩阵的前m行,是低秩表示系数矩阵的后m行,||·||1,1表示矩阵的l1,1范数,即|A(u,v)|表示A的第u行第v列元素的绝对值;
(7)将每一个聚类Cj的显著性因子L(Cj)按照其空间位置映射到输入图像I中,得到输入图像I的显著图。
2.根据权利要求1所述的基于稀疏子空间聚类和低秩表示的显著性目标检测方法,其特征在于:步骤(4)中得到低秩表示算法的字典D,包括如下步骤:
(4a)计算超像素的颜色对比度:
其中,表示超像素pi中所有像素的CIElab颜色特征的均值,表示超像素pi中任一像素点Im的颜色特征,|pi|是超像素pi中像素点的总数,表示超像素pj中所有像素的颜色特征的均值,表示超像素pj中任一像素点In的颜色特征,|pj|是超像素pj中像素点的总数,||ci-cj||2为ci和cj欧氏距离的平方;表示超像素pi中所有像素位置坐标的均值,表示超像素pi中任一像素点Im的位置坐标,表示超像素pj中所有像素位置坐标的均值,表示超像素pj中任一像素点In的位置坐标,||li-lj||2为li和lj欧氏距离的平方,Zi是使得的归一化参数,σp是局部-全局权衡因子;
(4b)根据超像素颜色对比度由大到小对超像素特征进行排序,得到低秩表示算法的字典其中,是超像素的特征向量,1≤si≤N,且满足
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510951934.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种淀粉基纺织浆料的制备方法
- 下一篇:一种轴流风机