[发明专利]一种电阻校验装置

说明书

技术领域

本发明涉及电阻校验技术领域，更具体的说，涉及一种电阻校验装置。

背景技术

测试工装是一种用于对产品进行测试的设备，包括：FCT(FunctionalCircuitTest，测试功能)通用底座、气动底座、通用放电工装、专用放电工装等。当测试工装使用时间较长时，设置在测试工装内部的各电路中的电阻就容易出现异常(阻值增大、减小或失效)，从而造成测试不可控。因此，需要定期对测试工装内各电路中电阻阻值进行点检。

目前，每次对测试工装中的电阻进行点检时，工装员都需要使用万用表的两个表笔，按在针座的针脚上测试电阻阻值，并且，每测完一个电阻就需记录一次数据。由于测试工装中的电阻较多，因此，这种测试方法导致工装员的劳动强度大，测试所需时间长，测试效率低。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种电阻校验装置，以解决在对测试工装中的电阻测试时，工装员劳动强度大、所需时间长以及测试效率低的问题。

一种电阻校验装置，包括：

壳体；

安装在所述壳体上的拨档开关；

位于所述壳体外部且与所述拨档开关的各档位端连接的接线端子；

位于所述壳体外部且与所述拨档开关的公共端连接的第一连接件，所述第一连接件的另一端能够与万用表的COM端连接；

以及，位于所述壳体外部且与所述接线端子连接的第二连接件，所述第二连接件的另一端能够与所述万用表的VΩ端连接。

优选的，

所述第一连接件为第一鳄鱼夹，所述第一鳄鱼夹通过所述万用表的第一表笔插进所述COM端的COM孔；

所述第二连接件为第二鳄鱼夹，所述第二鳄鱼夹通过所述万用表的第二表笔插进所述VΩ端的VΩ孔。

优选的，

所述第一连接件为第一插接件，所述第一插接件能够插进所述COM端的COM孔；

所述第二连接件为第二插接件，所述第二插接件能够插进所述VΩ端的VΩ孔。

优选的，所述壳体为非金属材质壳体。

优选的，所述拨档开关为多个，且各拨档开关的公共端均与所述第一连接件连接。

优选的，所述拨档开关嵌在所述壳体上面。

从上述的技术方案可以看出，本发明提供了一种电阻校验装置，包括壳体，安装在壳体上的拨档开关、与拨档开关的各档位连接的接线端子、与拨档开关的公共端连接的第一连接件以及与接线端子连接的第二连接件。校验测试工装中的电阻时，只需将电阻校验装置中的接线端子和与各电阻两端固定连接的接线端子连接，第一连接件和第二连接件分别与万用表的COM端和VΩ端连接，将万用表调至测试电阻档位即可直接记录测试数据，移动拨档开关就可以接通不同电阻的测试通路，从而得到各个所需测试电阻的阻值。相比现有技术每测量一个电阻均需将表笔按在针座的针脚上而言，本发明通过移动拨档开关即可实现对电阻的测量，因此，大大减轻了工装员的劳动强度，减少了测试时间，提高了工作效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例公开的一种电阻校验装置的结构示意图；

图2为本发明实施例公开的一种电阻校验装置的原理图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例公开了一种解决在对测试工装中的电阻测试时工装员劳动强度大、所需时间长以及测试效率低的问题。

参见图1，本发明实施例公开的一种电阻校验装置的结构示意图，包括：壳体11、拨档开关12、接线端子13、第一连接件14和第二连接件15；

其中：

拨档开关12安装在壳体11上。

接线端子13位于壳体11外部且与拨档开关12的各档位连接；

第一连接件14位于壳体11外部且一端与拨档开关12的公共端连接，第一连接件14的另一端能够与万用表的COM端连接；