[发明专利]用于测量击穿电压的装置、设备及方法

权利要求书

1.一种用于测量击穿电压的装置，包括受控电压源、电流检测电路和处理电路，其中：

所述受控电压源的输出端连接传感器单元的输入端，所述受控电压源用于为所述传感器单元提供一系列测试偏置电压；

所述电流检测电路的输入端连接所述传感器单元的输出端，所述电流检测电路用于检测所述传感器单元输出的电流信号并生成对应的检测信号；

所述处理电路的输入端连接所述电流检测电路的输出端，所述处理电路的输出端连接所述受控电压源的输入端，所述处理电路用于控制所述受控电压源提供所述一系列测试偏置电压，基于所述检测信号计算与所述一系列测试偏置电压分别对应的暗电流，并基于所述一系列测试偏置电压和所述暗电流确定所述传感器单元的击穿电压；

其中，所述检测信号是数字信号，所述数字信号由持续时间相等的高电平和低电平组成，并且所述数字信号中的所有高电平之和与所述电流信号对时间的积分成正比；

所述处理电路进一步用于根据对所述数字信号中的“1”进行累加或计数所获得的数值区分所述传感器单元中发生的事件是有效事件还是暗事件，所述暗电流为发生所述暗事件时所述传感器单元输出的所述电流信号。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

所述处理电路通过以下方式控制所述受控电压源提供所述一系列测试偏置电压：

如果当前提供的测试偏置电压所对应的暗电流处于暗电流范围之外，则控制所述受控电压源提供新的测试偏置电压，直至最终提供的测试偏置电压所对应的暗电流处于所述暗电流范围之内，其中，所述暗电流范围基于已知击穿电压所对应的已知暗电流而定；

所述处理电路通过以下方式确定所述传感器单元的击穿电压：

确定所述最终提供的测试偏置电压为所述传感器单元的击穿电压。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述一系列测试偏置电压中的、初始提供的测试偏置电压等于所述已知击穿电压。

4.根据权利要求2或3所述的装置，其特征在于，所述处理电路通过以下方式控制所述受控电压源提供新的测试偏置电压：

以电压步长可变方式控制所述受控电压源提供新的测试偏置电压。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理电路通过以下方式确定所述传感器单元的击穿电压：

基于所述一系列测试偏置电压和所述暗电流的关系曲线确定所述传感器单元的击穿电压。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述一系列测试偏置电压中的最大测试偏置电压等于预定电压上限并且所述一系列测试偏置电压中的最小测试偏置电压等于预定电压下限。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述预定电压上限等于所述传感器单元的最大击穿电压，并且所述预定电压下限等于所述传感器单元的最小击穿电压。

8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理电路进一步包括击穿电压确定电路和电压控制电路，

所述击穿电压确定电路用于基于所述检测信号计算与所述一系列测试偏置电压分别对应的暗电流，并基于所述一系列测试偏置电压和所述暗电流确定所述传感器单元的击穿电压；

所述电压控制电路用于控制所述受控电压源提供所述一系列测试偏置电压。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理电路包括发送接口，所述受控电压源包括接收接口，所述处理电路进一步用于经由所述发送接口发送控制命令到所述接收接口，所述控制命令用于控制所述受控电压源提供所述一系列测试偏置电压。

10.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置在所述传感器单元处于非工作状态时启动。