[发明专利]一种半色调图像特征的检测方法及装置有效
申请号: | 201510954243.3 | 申请日: | 2015-12-17 |
公开(公告)号: | CN106899776B | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 谢浩;刘颖;沈景华;朱喧 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;北京北大方正电子有限公司 |
主分类号: | H04N1/00 | 分类号: | H04N1/00;H04N1/405;H04N1/409 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;安利霞 |
地址: | 100871 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 色调 图像 特征 检测 方法 装置 | ||
1.一种半色调图像特征的检测方法,其特征在于,包括:
获取待检测半色调图像中的一图像数据块;
获取所述图像数据块在预定偏移范围内的每组偏移量下分别对应的能量值;
根据所述图像数据块分别对应的能量值,确定所述图像数据块的最小周期偏移量;
根据所述最小周期偏移量,获取所述待检测半色调图像的特征参数,所述特征参数至少包括挂网线数和挂网角度。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述获取所述图像数据块在预定偏移范围内的每组偏移量下分别对应的能量值,包括:
在所述图像数据块中建立一坐标系,并确定所述图像数据块中的起始像素点的坐标及所述图像数据块中的像素点的坐标范围;
根据所述起始像素点的坐标及所述坐标范围,并通过如下公式获取所述图像数据块P在预定偏移范围内的每组偏移量下分别对应的能量值Eh(P)m,n:
其中,x、y分别为所述图像数据块中的像素点的横坐标和纵坐标,x0、y0分别为所述图像数据块中的起始像素点的横坐标和纵坐标,Nx、Ny分别为所述图像数据块的像素点的横坐标范围和纵坐标范围,m、n分别为所述图像数据块的横向偏移量和纵向偏移量,0≤m≤a,0≤n≤b,其中,a是横向偏移量的预定偏移范围的最大值,b是纵向偏移量的预定偏移范围的最大值;
通过如下公式获取所述图像数据块中的像素点的能量值Eh(x,y):
其中,P(x,y)为所述图像数据块中的像素点的灰度值。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述根据所述图像数据块分别对应的能量值,确定所述图像数据块的最小周期偏移量,包括:
获取所述图像数据块分别对应的能量值中的最小能量值;
判断所述图像数据块分别对应的能量值中,是否存在与所述最小能量值的差值在第一预设范围内的相近能量值;
若不存在,则确定所述最小能量值对应的偏移量为最小周期偏移量;
若存在,则获取所述最小能量值与所述相近能量值分别对应的偏移量中的最小偏移量,并根据所述最小偏移量确定所述最小周期偏移量。
4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述根据所述最小偏移量确定所述最小周期偏移量,包括:
判断所述最小能量值与所述相近能量值分别对应的偏移量中,是否存在与所述最小偏移量的差值在第二预设范围内的相近偏移量;
若不存在,则确定所述最小偏移量为所述最小周期偏移量;
若存在,则获取所述最小偏移量与所述相近偏移量分别对应的偏移点相连接成的多边形的重心点,并确定所述重心点对应的坐标为所述最小周期偏移量。
5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述根据所述最小周期偏移量,获取所述待检测半色调图像的特征参数,包括:
根据所述最小周期偏移量,并通过如下公式获取所述待检测半色调图像的挂网线数freq:
根据所述最小周期偏移量,并通过如下公式获取所述待检测半色调图像的挂网角度θ:
θ=arctan(ky/kx);
其中,kx、ky分别所述最小周期偏移量的横向偏移量和纵向偏移量,R为所述待检测半色调图像的分辨率。
6.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括:
获取原始图像,并对所述原始图像进行滤波处理;
若所述原始图像不是半色调图像,则将滤波后的所述原始图像转化为半色调图像;
对转化后的所述半色调图像进行区域分割处理,去除所述半色调图像中的非周期性图像区域,得到待检测半色调图像。
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